Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 54 стр.

54
   10. На этом разработка (редактирование) измерительной про-
граммы заканчивается. Ее можно сохранить в энергонезависи-
мом ППЗУ программ. Для этого необходимо нажать клавишу
PROGR.RECORD. При этом имеется возможность ввести новый
идентификатор программы в поле, обозначенное курсором. После
ввода идентификатора нажать Enter для записи программы в биб-
лиотеку программ. Программа при этом автоматически получит соот-
ветствующий номер. После записи, нажав PROGR.LIBRARY, мож-
но будет увидеть номер только что записанной программы — он
высвечивается инверсно.

4.3.   Исследование влияния условий измерений

    Под условиями измерений прежде всего имеются в виду напря-
жения питания. Для некоторых типов аналоговых ИМС, например
операционных усилителей, в технических условиях (ТУ) основные
параметры нормируются при нескольких значениях напряжения пи-
тания. Возможность измерения параметров ИМС при уменьшении
напряжения питания по сравнению с номинальными значениями ле-
жит в основе метода критических питающих напряжений [1, 14].
   Критическим называется такое напряжения питания, при котором
либо параметр (параметры) выходят за установленные в ТУ пределы,
либо микросхема перестает функционировать. Метод критических
питающих напряжений является достаточно информативным спосо-
бом индивидуального контроля качества ИМС. Результаты теорети-
ческих и экспериментальных исследований [1, 14] свидетельствуют
о том, что микросхемы, сохраняющие работоспособность при мини-
мальном напряжении питания, являются более надежными.
   Кроме напряжений питания можно менять в разрешенных ТУ
пределах другие электрические параметры: сопротивления нагрузки,
замыкать и размыкать петлю обратной связи и т. п. Условия изме-
рений зависят также от температуры внешней среды, цикличности
изменения температуры в процессе измерений (термоциклирования)
или перед измерениями (электротермотренировки), относительной
влажности, давления и других факторов.