Основные разделы кристаллографии. Кузьмичева Г.М. - 9 стр.

                                  ГЛАВА 3
              ПРОЕКТИРОВАНИЕ КРИСТАЛЛОВ
   Кроме измерения углов кристалла, одной из существенных задач является его
изображение. В кристаллографии для этого пользуются обычно двумя методами:
образным, или перспективным (ортогональные и аксонометрические проекции)
(рис. 8) и графическим (графические проекции). В последнем случае кристалл
может проектироваться на поверхность сферы (сферическая проекция),
экваториальную        плоскость      сферы       (стереографическая        и
гномостереографическая проекции) и плоскость, касательную к северному
(верхнему) полюсу сферы (гномоническая проекция).




                    а                                       б
      Рис. 8. Проекция кристалла флюорита - CaF2:
      а – аксонометрическая проекция;
      б – ортогональная проекция.
   Образное проектирование не выявляет в достаточной степени
действительные величины углов между гранями, что позволяют сделать
графические проекции. При этом кристалл может быть представлен или в виде
прямого (кристаллического) комплекса (рис. 9а), или в виде обратного
(полярного) комплекса (рис. 9б). В последнем случае каждая грань кристалла
заменяется на нормаль к ней, которая и проектируется (рис. 9в).




          а                       б                       в
      Рис. 9. Кристаллический многогранник:
      а – прямой (кристаллический) комплекс;
      б – обратный (полярный) комплекс; в – нормали к его граням

                                                                          9