Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II. Кузьмичева Г.М. - 1 стр.

Федеральное агентство по образованию Российской Федерации     УДК 548.73
                                                              ББК 24.5
                                                                                                            Рецензент:
      Московская государственная академия                   доц., к.х.н. Сафонов В.В. (МИТХТ им. М.В.Ломоносова)
       тонкой химической технологии им.
               М.В.Ломоносова                               Кузьмичева Г.М.
                                                            «Порошковая дифрактометрия в материаловедении”.Часть II.
       Кафедра физики и химии твердого тела                 Учебное пособие. М.: МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006

            д.х.н., проф. Г.М.Кузьмичева                       Утверждено Библиотечно-издательской комиссией МИТХТ
                                                            им. М.В.Ломоносова в качестве учебного пособия. Поз. (№
         Порошковая дифрактометрия в                        в плане изданий) /2006.
              материаловедении                                 Данное учебное пособие является дополнением к
                                                            существующим учебникам по рентгенографическим методам
                        Часть II                            исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов
                                                            3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава
                    Учебное пособие
                                                            и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и
                                                            технология новых материалов») и курсам лекций для студентов
                                                            очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Методы
                                                            исследования      реальной    кристаллической     структуры"
                                                            (специализация 071003 «Полупроводниковое материаловедение
                                                            и технология материалов оптоэлектроники»), "Дифракционные
                                                            методы      исследования     кристаллических     материалов"
                                                            (магистерская       программа       551612      «Физическое
                                                            материаловедение и технология материалов электронной
                                                            техники»), "Дифракционные методы исследования редких
                                                            элементов и материалов на их основе” (магистерская программа
                                                            551611 «Физико-химическое исследования новых материалов и
                                                            процессов») и курса лекции для студентов 5 курса по
                                                            дисциплине      "Методы     исследования     кристаллической
                                                            структуры" (специализация 071000 «Материаловедение и
                                                            технология новых материалов») очно-заочной формы обучения.
                     Москва, 2006 г
                                                               В учебном пособии рассмотрены основные задачи, решаемые
                                                            с помощью порошковой дифрактометрии.
                                                                                     © МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006