Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 12 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-23-
Шириной линии называет рина линии прямоугольного
профиля, у которой максимальная и интегральная величина
площади дифракц линии к
радианах). Ширина пика (величина β) измеряется на ло
его высоты .
ся ши
интенсивности равны максимальной и интегральной
интенсивности экспериментальной линии β=I
ИНТ.
/I
max.
–
отношению ионной ее высоте (в
по вине
(рис. 15)
Рис. 15. Измерение ширины дифракционного отражения.
-24-
Обработка дифракционных ажений, полученных при
ав ц т многими
порошковой
Информация, пол фическом изучении
по
й х задач
ление состояния твердого тела
Ана ести
ис
л
дых растворов
га в
с
и
технологических
т к
лазера. Хорошая
отр
томатической съемке образ ов, осущес вляется
программами, в частности, программой PROFIT.
3. Задачи, решаемые с помощью
дифрактометрии.
ученная при рентгеногра
ликристаллического образца или измельченного в порошок
монокристалла, может оказаться существенной или даже
единственно возможно для решения основны в
материаловедении.
3.1.Опреде
лиз внешнего вида дифрактограммы позволяет отн
следуемый образец к аморфному, поликристаллическому,
текстуре или монокриста лическому веществу.
Задача. Интерес к световодам из твер
логенидов серебра твердых растворо Ag(Cl
1-Х
Br
Х
) c 0.5<x<0.8
(PIR-волокнам) связан, в первую очередь, широкими
перспективами х использования в инфракрасной технике для
работы в спектральном диапазоне 4-14 мкм в качестве
спектральных кабелей и сенсоров для ,
медицинских и др. целей, а акже для достав и излучения СО
2
-
                            -23-                                                                 -24-

  Шириной линии называется ширина линии прямоугольного            Обработка дифракционных отражений, полученных при

профиля, у которой максимальная и интегральная величина         автоматической съемке образцов, осуществляется многими

интенсивности     равны   максимальной    и   интегральной      программами, в частности, программой PROFIT.

интенсивности     экспериментальной   линии   β=IИНТ./Imax. –
                                                                 3. Задачи, решаемые с помощью порошковой
отношению площади дифракционной линии к ее высоте (в
радианах). Ширина пика (величина β) измеряется на половине                          дифрактометрии.
его высоты (рис. 15).                                             Информация, полученная при рентгенографическом изучении
                                                                поликристаллического образца или измельченного в порошок
                                                                монокристалла, может оказаться существенной или даже
                                                                единственно возможной для решения основных задач в
                                                                материаловедении.
                                                                       3.1.Определение состояния твердого тела
                                                                  Анализ внешнего вида дифрактограммы позволяет отнести
                                                                исследуемый образец к аморфному, поликристаллическому,
                                                                текстуре или монокристаллическому веществу.
                                                                  Задача. Интерес к световодам из твердых растворов
                                                                галогенидов серебра твердых растворов Ag(Cl1-ХBrХ) c 0.5

Страницы