Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 10 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-19-
Рис.10 Расщепление дифракционного отражения на Kα
1
и
Kα
2
.
Если дифракционное отражение асимметричное, то
необходимо знать причину асимметрии, которая может быть
обусловлена:
а) наложением со смещением двух дифракционных
отражений основной фазы или основной фазы и примесной;
б) небольшим искажением элементарной ячейки, связанной с
понижением симметрии кристалла;
в) дефектами упаковки;
г) отсутствием разрешения Kα
1
и Kα
2
отражений;
д) инструментальными причинами.
-20-
Если причина асимметрии неизвестна или асимметрия
связана с дефектами упаковки, то измерение угла 2θ°
проводится по центру тяжести пика (рис. 11).
Рис. 11. Асимметричное дифракционное отражение с
указанием центра тяжести и максимума пика.
В остальных случаях измерения углов 2θ° осуществляется по
центрам тяжести двух накладывающихся дифракционных
отражений (рис. 12). 
                              -19-                                                               -20-
                                                                  Если причина асимметрии неизвестна или асимметрия
                                                                связана с дефектами упаковки, то измерение угла 2θ°
                                                                проводится по центру тяжести пика (рис. 11).




 Рис.10 Расщепление дифракционного отражения на Kα1 и
                             Kα2.

  Если    дифракционное     отражение    асимметричное,    то
необходимо знать причину асимметрии, которая может быть
обусловлена:                                                        Рис. 11. Асимметричное дифракционное отражение с
  а)   наложением   со     смещением    двух   дифракционных           указанием центра тяжести и максимума пика.
  отражений основной фазы или основной фазы и примесной;
  б) небольшим искажением элементарной ячейки, связанной с        В остальных случаях измерения углов 2θ° осуществляется по
  понижением симметрии кристалла;                               центрам   тяжести      двух   накладывающихся   дифракционных
  в) дефектами упаковки;                                        отражений (рис. 12).
  г) отсутствием разрешения Kα1 и Kα2 отражений;
  д) инструментальными причинами.

Страницы