Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 9 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-17-
Рис. 8. Внешний вид камеры Гинье и вид рентгенограммы.
Imagining Plate камеры Гинье имеют низкотемпературную
(10-320К) и высокотемпературную (300-1800К) приставки и
приставку, позволяющую изучать влияние давления (до 70 ГПа).
2.2.1.Расчет дифрактограмм.
На дифрактограмме измеряются углы отражения – 2θ°,
интенсивность отражения (I отн. ед) и ширина дифракционного
отражения (величина β рад), измеренная на ½ высоты
пика.
-18-
Углы отражения 2θ° измеряются по-разному в зависимости от
формы дифракционного отражения.
Если дифракционное отражение симметричное (рис. 9), то
угол 2θ° измеряется для
точки пика с максимальной интенсивностью.
Рис. 9. Симметричное дифракционное отражение.
Если на дифрактограмме присутствуют Kα
1
и Kα
2
отражения
(рис. 10), которые представляют собой отражения от одной и
той же плоскости hkl, но с длинами волн
соответственно λα
1
и λα
2
, то измеряются углы 2θ° для каждой
линии дублета. 
                              -17-                                                          -18-
                                                                 Углы отражения 2θ° измеряются по-разному в зависимости от
                                                               формы дифракционного отражения.
                                                                 Если дифракционное отражение симметричное (рис. 9), то
                                                               угол             2θ°                измеряется              для
                                                               точки пика с максимальной интенсивностью.




 Рис. 8. Внешний вид камеры Гинье и вид рентгенограммы.

  Imagining Plate камеры Гинье имеют низкотемпературную
(10-320К) и высокотемпературную (300-1800К) приставки и               Рис. 9. Симметричное дифракционное отражение.
приставку, позволяющую изучать влияние давления (до 70 ГПа).
                                                                 Если на дифрактограмме присутствуют Kα1 и Kα2 отражения
              2.2.1.Расчет дифрактограмм.
                                                               (рис. 10), которые представляют собой отражения от одной и
  На дифрактограмме измеряются углы отражения – 2θ°,
                                                               той     же   плоскости    hkl,      но   с       длинами   волн
интенсивность отражения (I отн. ед) и ширина дифракционного
                                                               соответственно λα1 и λα2, то измеряются углы 2θ° для каждой
отражения (величина β рад), измеренная на ½ высоты пика.
                                                               линии дублета.

Страницы