ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
-15-
Для регистрации интенсивности дифрагированного луча
счетчик должен повернуться на угол 2θ по отношению к
первичному пучку при этом образец поворачивается на угол θ.
Стандартные современные дифрактометры позволяют получать
порошковую рентгенограмму в интервале углов 2θ от 2° до 160°
с минимальным шагом 0,01–0,005°.
Для рентгенографической съемки в дифрактометре обычно
используют плоский препарат, который устанавливают
во
вращающуюся приставку, что способствует повышению
воспроизводимости рентгенограммы из-за увеличения числа
систем атомных плоскостей, находящихся в отражающем
положении. Образец может представлять собой или плоский
срез массивного поликристаллического агрегата, или он может
быть в виде порошка (∼0.1 г) с оптимальным размером
частиц ∼ 0,001–0,0001 мм, который помещается в углубление
специальной кварцевой кюветы
и прессуется.
.При прессовании в образце может возникнуть текстура, т.е.
закономерная укладка одинаково ориентированных по
плоскостям спайности или граням кристаллитов. Текстура не
является помехой для измерения положения дифракционных
максимумов, однако в случае кристаллов с высокой спайностью
текстурирование может привести к тому, что на рентгенограмме
останутся лишь рефлексы, соответствующие параллельным
-16-
спайности плоскостям (так называемые базальные рефлексы).
Некоторое улучшение результатов съемки можно достичь при
смешивании такой фазы с изотропным материалом (например,
крахмалом) или с материалом, который может играть роль
внутреннего стандарта (например, α-Al
2
O
3
) и одновременно
ослабить эффект, связанный с образованием текстуры.
Нарушения плоской поверхности образца могут привести к
расширению дифракционных пиков, их смещению и искажению
интенсивностей. К смещению пиков может приводит
заглубленная или выступающая за плоскость поверхность
образца.
Ионизационный метод может реализоваться в Imagining Plate
камере Гинье (рис. 8), в которой дифракционные отражения
регистрируются на
специальном экране, а затем они
сканируются с помощью лазера. В качестве детекторов
применяется координатный счетчик. Для съемки используется
плоский препарат или капилляры. Порошковую рентгенограмму
можно получить интервале углов 2θ от 0° до 100° с шагом
0.005°.
-15- -16- Для регистрации интенсивности дифрагированного луча спайности плоскостям (так называемые базальные рефлексы). счетчик должен повернуться на угол 2θ по отношению к Некоторое улучшение результатов съемки можно достичь при первичному пучку при этом образец поворачивается на угол θ. смешивании такой фазы с изотропным материалом (например, Стандартные современные дифрактометры позволяют получать крахмалом) или с материалом, который может играть роль порошковую рентгенограмму в интервале углов 2θ от 2° до 160° внутреннего стандарта (например, α-Al2O3) и одновременно с минимальным шагом 0,01–0,005°. ослабить эффект, связанный с образованием текстуры. Для рентгенографической съемки в дифрактометре обычно Нарушения плоской поверхности образца могут привести к используют плоский препарат, который устанавливают во расширению дифракционных пиков, их смещению и искажению вращающуюся приставку, что способствует повышению интенсивностей. К смещению пиков может приводит воспроизводимости рентгенограммы из-за увеличения числа заглубленная или выступающая за плоскость поверхность систем атомных плоскостей, находящихся в отражающем образца. положении. Образец может представлять собой или плоский Ионизационный метод может реализоваться в Imagining Plate срез массивного поликристаллического агрегата, или он может камере Гинье (рис. 8), в которой дифракционные отражения быть в виде порошка (∼0.1 г) с оптимальным размером регистрируются на специальном экране, а затем они частиц ∼ 0,001–0,0001 мм, который помещается в углубление сканируются с помощью лазера. В качестве детекторов специальной кварцевой кюветы и прессуется. применяется координатный счетчик. Для съемки используется .При прессовании в образце может возникнуть текстура, т.е. плоский препарат или капилляры. Порошковую рентгенограмму закономерная укладка одинаково ориентированных по можно получить интервале углов 2θ от 0° до 100° с шагом плоскостям спайности или граням кристаллитов. Текстура не 0.005°. является помехой для измерения положения дифракционных максимумов, однако в случае кристаллов с высокой спайностью текстурирование может привести к тому, что на рентгенограмме останутся лишь рефлексы, соответствующие параллельным
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 6
- 7
- 8
- 9
- 10
- …
- следующая ›
- последняя »