Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 42 стр.

UptoLike

Составители: 

-83-
5.Список использованной литературы.
1 Ковба Л.М. Рентгенография в неорганической химии.
Изд-во МГУ им ., 1991, 225С
2 .
1
ы ту
о
руктуры полупроводниковых материалов (порошковая
рентгенография, дифрактометрия и электронография), М.,
1979. 136С
5 Ковба Л.М., Трунов В.К Рентгенофазовый анализ. М.,
Изд-во Моск. ун-та. 1976. 232С
6 Асланов Л.А., Треушников Е.Н. Основы теории
дифракции рентгеновских лучей. М., Изд-во Моск. ун-та.
1985. 216С
7 Пущаровский
Д.Ю. Рентгенография минералов. ЗАО
«Геоинформмарк» М С.
8 Чернышев В.В. «Определение кристаллических структур
методами порошковой дифракции». Изв. Академии наук.
Изда
зь а
ро р
Часть
Учеб
дпи печать Б писчая
Отпеч
Лицен ельскую деятельность
ско
техно
Издательско-полиграфический центр МИТХТ
19571 Москва, пр. Вернадского 86.
. М.В.Ломоносова, М
Елисеев А.А., Морозов С.П Практическое руководство к
лабораторным работам по рентгеноструктурному анализу
М, 972, 223С
3 Порай-Кошиц М.А. Основ струк рного анализа
химических соединений. М., Высшая школа, 1989,188С
4 Елисеев А.А., Толстова
В.А. Мет ды исследования
ст
.
., 2000. 296
Сер. Химическая. 2001. 12. С.2171-2187
-84-
ние учебное
Ку мичева Галин Михайловна.
По шковая диф актометрия в материаловедении.
I.
ное пособие
По сано в Формат 60×84/16. умага .
атано на ризографе. Уч. изд. листов . Тираж 200
зия на издат
ИД 03507 (рег.003792) код 221
Мо вская государственная академия тонкой химической
логии им. М.В.Ломоносова
1
                                -83-                                                            -84-
    5.Список использованной литературы.
1   Ковба Л.М. Рентгенография в неорганической химии.              Издание учебное
    Изд-во МГУ им. М.В.Ломоносова, М., 1991, 225С
2   Елисеев А.А., Морозов С.П. Практическое руководство к          Кузьмичева Галина Михайловна.
    лабораторным работам по рентгеноструктурному анализу
    М, 1972, 223С                                                  Порошковая дифрактометрия в материаловедении.
3   Порай-Кошиц          М.А.   Основы   структурного    анализа
                                                                   Часть I.
    химических соединений. М., Высшая школа, 1989,188С
4   Елисеев А.А., Толстова В.А. Методы            исследования
    структуры полупроводниковых материалов (порошковая             Учебное пособие
    рентгенография, дифрактометрия и электронография), М.,
    1979. 136С                                                     Подписано в печать        Формат 60×84/16. Бумага писчая.

5   Ковба Л.М., Трунов В.К. Рентгенофазовый анализ. М.,            Отпечатано на ризографе. Уч. изд. листов     . Тираж 200

    Изд-во Моск. ун-та. 1976. 232С                                 Лицензия на издательскую деятельность

6   Асланов      Л.А.,    Треушников     Е.Н.   Основы   теории    ИД №03507 (рег.№003792) код 221

    дифракции рентгеновских лучей. М., Изд-во Моск. ун-та.
    1985. 216С                                                     Московская государственная академия тонкой химической

7   Пущаровский Д.Ю. Рентгенография минералов. ЗАО                 технологии им. М.В.Ломоносова

    «Геоинформмарк» М., 2000. 296С.
8   Чернышев В.В. «Определение кристаллических структур            Издательско-полиграфический центр МИТХТ

    методами порошковой дифракции». Изв. Академии наук.
    Сер. Химическая. 2001. №12. С.2171-2187                        119571 Москва, пр. Вернадского 86.