ВУЗ:
фазовая диаграмма. Наклонные и толщинные экстинкционные
контуры. Основы динамической теории контраста.
7. Кинетическая теория
контраста на дефектах
кристаллического
строения.
Контраст на дефектах упаковки, дислокациях, границах
зерен (кинетическое описание и динамические эффекты).
8. Контраст от включений
вторичных фаз
Включения ориентационныt, типа полос смещения, по
структурному фактору. Метод Муара.
9. Электронная микроско-
пия высокого разре-
шения.
10. Аналитическая элект-
ронная микроскопия.
III. Распределение часов курса по темам и видам работ
Аудиторные занятия (час)
в том числе
№
пп
Наименование
темы
Всего
часов
лекции семинары
лаборатор.
занятия
Самостоя-
тельная
работа
1
Предмет и история
электронной микрос-
копии. Электронная
оптика.
2 2 -
2
Устройство электрон-
ного микроскопа.
8 2 6
3
Дефекты изображения в
электронных линзах
2 2 -
4
Взаимодействия элект-
ронов с веществом.
6 4 - 2
5
Дифракция электронов.
18 4 12 2
6
Атомное рассеяние.
8 6 - 2
7
Кинетическая теория
контраста на дефектах
кристаллического
строения.
16 6 6 4
8
Контраст от включений
вторичных фаз
14 2 12
9
Электронная микрос-
копия высокого раз-
решения.
6 4 - 2
10
Аналитическая элект-
ронная микроскопия.
2 2 -
ИТОГО
82 34 - 36 12
IV. Форма итогового контроля
Теоретический зачет.
V. Учебно-методическое обеспечение курса
1. Рекомендуемая литература (основная):
1. Мышляев М.М., Бушнев Л.С., Колобов Ю.Р.. Электронная микроскопия. – Томск:
