Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 81 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

РУДН | Москва

Составители: 

Рубрика: 

81
Параметры материала могут быть заданы как постоянными во всем
диапазоне длин волн
[ , ]
beg end

, так и зависящими от
: ( ), ( )nk
.
Тонкий анизотропный слой. Используется для задания оптических
параметров анизотропных пленок.
Для анизотропного слоя задаются толщина и диэлектрические
параметры материала:
показатели преломления для всех трех главных компонент
диэлектрического тензора
,,
a b c
n n n
;
коэффициенты поглощения для всех главных компонент
диэлектрического тензора
,,
a b c
k k k
;
углы Эйлера
,,
.
Все параметры материала, кроме углов Эйлера, могут быть заданы
как постоянными во всем диапазоне длин волн
[ , ]
beg end

, так и
зависящими от
: ( ), ( )nk
.
Толстая изотропная подложка. Используется для задания
оптических параметров изотропных подложек, к которым относятся стекло
и различные полимерные пленки.
Для изотропной подложки задаются толщина, которая, как правило,
имеет большое значение (порядка 1 мм), и параметры материала:
показатель преломления
n
;
коэффициент поглощения
k
.
Параметры подложки могут быть заданы как постоянными во всем
диапазоне длин волн
[ , ]
beg end

, так и зависящими от
: ( ), ( )nk
.
Толстая анизотропная подложка. Используется для задания
оптических параметров анизотропных подложек, к которым относятся
некоторые полимерные пленки.
Для анизотропной подложки задаются толщина и параметры
материала:

Страницы