Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 79 стр.

UptoLike

79
Применение комбинированной методики в дальнейшем позволяет
значительно сократить время решения обратной задачи. На основе
приведенных методик проводится расчет пропускания и отражения в
прямой и обратной задачах.
В расширенной постановке прямая задача используется для
моделирования оптических систем, состоящих из совокупности
всевозможных оптических элементов. Процесс моделирования таких
систем очень важен для приложений, связанных с проектированием
различных оптических конструкций и, в частности, ЖКД. Ниже приведена
постановка прямой задачи, решение которой реализовано в программном
обеспечении.
Для оптических систем, состоящих из тонких пленок произвольной
природы, подложек, различных оптических элементов (поляризаторы,
ретардеры, воздушные прослойки и т.п.), для произвольных поляризаций
падающего света требуется вычислить все основные параметры
прошедшего и отраженного света в заданном диапазоне длин волн
[ , ]
beg end

и/или в диапазоне углов падения
[ , ]
beg end

.
В дальнейшем под многослойной системой будем понимать
произвольный набор оптических элементов, через который проходит (или
от которых отражается) луч света. Можно считать, что на пути светового
луча стоит неоднородная оптическая среда. Следовательно, для
многослойной системы образуется зависимость параметров среды
(матрицы
из формулы (4.5)) от оси
z
, а итоговая матрица Берремана
находится как произведение матриц отдельных слоев [11,16]:
1
( ) ( )
n
i
i
P z P z
. (4.22)
Заметим, что данное соотношение справедливо для оптических
систем любой сложности, в частности, для систем с дискретными
элементами типа поляроидов, фазовых пластинок и т.п. В силу