Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 93 стр.

UptoLike

93
поляризация (рис. 21.в), которая является комбинацией ортогональных
волн с произвольными амплитудами и сдвигами фаз. Именно это свойство
и определило название «эллипсометрия».
Спектроскопия
Спектроскопия позволяет измерить интенсивность отраженного или
прошедшего лучей света после взаимодействия с образцом. Спектрометр -
прибор, позволяющий измерять распределение энергии источника света по
частотам излучения.
6.3. Оптические характеристики материалов
В общем случае оптические характеристики, т.е. то, каким образом
электромагнитное излучение взаимодействует с материалом, выражаются
через компоненты тензоров диэлектрической и магнитной проницаемости,
а также тензора оптической активности. Во многих практически важных
случаях магнитной анизотропией и оптической активностью можно
пренебречь, поэтому далее ограничимся рассмотрением случая, когда
оптические свойства могут быть описаны лишь с помощью
диэлектрической проницаемости. В случае изотропных материалов для
описания оптических свойств достаточно одного комплексного числа
n n ik
, состоящего из показателя преломления
n
и коэффициента
поглощения
k
. Тензор диэлектрической проницаемости имеет вид
12
i

, при этом подразумевается следующая связь между
диэлектрической проницаемостью и показателем преломления:
2
n
.
Показатель преломления описывает фазовую скорость света в веществе по
сравнению с фазовой скоростью света
c
в вакууме,
/v c n
. Свет
замедляет скорость при входе в материал с большим показателем
преломления. Поскольку частота остается постоянной, то изменяется
(становится меньше) длина волны. Коэффициент затухания
k
описывает
потери волновой энергии в веществе. Его связь с коэффициентом