ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
qkT
n
p
n
kT
NN
n
np
i
DA
i
ϕ
0
22
==ln ln .
Энергетические диаграммы для разных полярностей внеш-
него напряжения показаны на рис. 2. Явно видно, что внеш-
нее напряжение изменяет высоту потенциального барьера.
При одной полярности напряжения барьер становится меньше
(прямое напряжение), а при другой — больше (обратное на-
пряжение). Условились считать прямое напряжение положи-
тельным, а обратное — отрицательным. Тогда высота потен-
циального барьера будет определяться одной формулой:
qU()
ϕ
0
−
.
Рис. 2. Энергетические диаграммы и концентрации носителей заряда в
p-n-переходе при внешнем напряжении: а — прямом, б — обратном
Методика проведения измерений
1. Снятие ВАХ биполярных структур в диодном
включении.
Для регистрации ВАХ биполярных структур в диодном
включении используются управляемый источник напряжения
(УИН) и измеритель тока. При этом независимо задаются
максимальные значения обратного и прямого напряжений для
УИН и предельные значения измеряемого обратного и прямо-
го токов. При необходимости снятия только прямой ветви
ВАХ нужно задать обратное напряжение, равное нулю. Для
снятия только обратной ветви ВАХ следует установить нуле-
вое прямое напряжение.
Максимальный предел измерения прямого тока – 50 мА.
Такое значение тока достигается, как правило, при прямом
смещении 0,7...1 В для кремниевых переходов и 0,4..0,7 В для
германиевых.
Обратный ток кремниевых структур составляет десятые –
сотые доли микроампер, и его практически можно наблюдать
с помощью данного стенда только при высокой температуре
(около 100 °С) на пределе 0,02 мА. У германиевых переходов
ток насыщения существенно больше (единицы – сотни мик-
роампер), его можно измерить, выбрав соответствующий пре-
дел по току. Используйте возможность увеличения фрагмента
характеристики.
При высоком обратном напряжении на переходе можно
наблюдать явление электрического пробоя. Переход база-
эмиттер транзистора из-за высокой концентрации примеси
пробивается при существенно меньшем напряжении, чем пе-
реход коллектор-база. Для транзисторов, выполненных по
планарной технологии, электрический пробой эмиттерного
перехода наступает обычно уже при обратном напряжении
6..12 В. Напряжение пробоя коллекторного перехода может
составить десятки – сотни вольт.
В случае возникновения перегрузки по току следует либо
уменьшить максимальное значение напряжения, либо увели-
чить предел измерения по току.
4 21
q ϕ 0 = kT ln nn p p = kT ln NDN A . Методика проведения измерений ni2 ni2 1. Снятие ВАХ биполярных структур в диодном Энергетические диаграммы для разных полярностей внеш- включении. него напряжения показаны на рис. 2. Явно видно, что внеш- Для регистрации ВАХ биполярных структур в диодном нее напряжение изменяет высоту потенциального барьера. включении используются управляемый источник напряжения При одной полярности напряжения барьер становится меньше (УИН) и измеритель тока. При этом независимо задаются (прямое напряжение), а при другой — больше (обратное на- максимальные значения обратного и прямого напряжений для пряжение). Условились считать прямое напряжение положи- УИН и предельные значения измеряемого обратного и прямо- тельным, а обратное — отрицательным. Тогда высота потен- го токов. При необходимости снятия только прямой ветви циального барьера будет определяться одной формулой: ВАХ нужно задать обратное напряжение, равное нулю. Для q( ϕ 0 − U ) . снятия только обратной ветви ВАХ следует установить нуле- вое прямое напряжение. Максимальный предел измерения прямого тока – 50 мА. Такое значение тока достигается, как правило, при прямом смещении 0,7...1 В для кремниевых переходов и 0,4..0,7 В для германиевых. Обратный ток кремниевых структур составляет десятые – сотые доли микроампер, и его практически можно наблюдать с помощью данного стенда только при высокой температуре (около 100 °С) на пределе 0,02 мА. У германиевых переходов ток насыщения существенно больше (единицы – сотни мик- роампер), его можно измерить, выбрав соответствующий пре- дел по току. Используйте возможность увеличения фрагмента характеристики. При высоком обратном напряжении на переходе можно наблюдать явление электрического пробоя. Переход база- эмиттер транзистора из-за высокой концентрации примеси пробивается при существенно меньшем напряжении, чем пе- реход коллектор-база. Для транзисторов, выполненных по планарной технологии, электрический пробой эмиттерного перехода наступает обычно уже при обратном напряжении 6..12 В. Напряжение пробоя коллекторного перехода может составить десятки – сотни вольт. В случае возникновения перегрузки по току следует либо уменьшить максимальное значение напряжения, либо увели- чить предел измерения по току. Рис. 2. Энергетические диаграммы и концентрации носителей заряда в p-n-переходе при внешнем напряжении: а — прямом, б — обратном 4 21
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- …
- следующая ›
- последняя »