ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
ЭИКТ ЭЛТИ
39
о
пр
tgfad
c
E
δε
λϕ
⋅⋅⋅
⋅⋅=
)(
1078,7
6
. (1.97)
В данном выражении необходимо учитывать зависимость
)(ln)(ln
ооо
TTatgTTaAtg
−
+=−+=
δ
δ
. (1.98)
При оценке кратковременной электрической прочности диэлектриков
(при электрическом и тепловом пробое) необходимо также учитывать раз-
брос величин Е
пр
. Разброс значений Е
пр
можно характеризовать интегральной
кривой распределения пробивных напряжений (рис. 1.33).
На основании данной кривой можно точ-
нее определить (выбрать) испытательное на-
пряжение, т.е. такое напряжение, которое вы-
держит конденсатор, не пробиваясь в течение
определенного промежутка времени.
Воздействию таким испытательным на-
пряжением подвергаются все конденсаторы
для отбраковки дефектных. Следует, однако,
отметить, что
такие испытания не являются
гарантией надежности оставшихся не проби-
тых конденсаторов.
При определении электрической прочно-
сти изоляции конденсатора следует учитывать также зависимость Е
пр
от
площади обкладок, температуры и частоты приложенного напряжения.
Пробой по закраине конденсатора также является частой причиной его
выхода из строя. По существу пробой по закраине представляет (перекрытие)
поверхностный пробой, когда на величину U
пер
оказывает влияние влажность
окружающего воздуха, состояние поверхности (ее загрязненность), степень
неравномерности электрического поля на краю обкладок.
Неравномерность электрического поля у краев обкладок приводит к по-
явлению двух составляющих напряженности поля - тангенциальной (вдоль
поверхности) и - нормальной (перпендикулярно поверхности). Это приводит
к появлению у краев обкладок сначала короны, а затем и скользящих
разря-
дов.
Исходя из эквивалентной схемы замещения плоского диэлектрика
(рис.1.34), М.И.Мантров получил выражение:
на постоянном напряжении
Рис.1.33. Интегральная
кривая распределения про-
бивных напряженностей
электрического поля
Рис. 1.34. Схема заме
щ
ения
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 37
- 38
- 39
- 40
- 41
- …
- следующая ›
- последняя »
