Основы конденсаторостроения. Меркулов В.И. - 41 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

ЭИКТ ЭЛТИ
41
вующей напряженности поля.
Практически стремятся выбрать Е
раб
с таким расчетом, чтобы в преде-
лах гарантированного срока службы имели место лишь отдельные случайные
пробои конденсаторов.
Сущность процесса старения заключается в возникновении и развитии в
диэлектрике конденсатора различных физико-химических процессов, вы-
званных воздействием электрического поля и приводящих к ухудшению ди-
электрических свойств и снижению электрической прочности. Это разруше-
ние диэлектрика можно рассматривать как самостоятельную форму пробоя,
вызванную различными процессами. Изучение процесса старения диэлектри-
ков позволило установить две основные формы этого пробоя - ионизацион-
ный и электрохимический.
Ионизационный пробой
Эта форма пробоя связана с развитием процесса старения диэлектрика
под действием частичных разрядов (ЧР), развивающихся в воздушных вклю-
чениях.
За счет развития ионизации происходят:
⇒
Химическое разрушение диэлектрика под воздействием продуктов иони-
зации - озона и окислов азота.
⇒
Непосредственное воздействие на диэлектрик бомбардировки ионами и
электронами.
⇒
Воздействие высокой температуры, созданной в зоне ионизации за счет
местного увеличения потерь энергии на ионизацию и проводимость.
Если представить воздушное включение в виде полости, вытянутой
вдоль слоев (рис.1.36), то можно рассмотреть процесс ЧР из следующей эк-
вивалентной схемы.
При достижении напряжения U = U
н.и.
, падение напряжения на поре дос-
тигает U
пр.в
, т.е. происходит пробой емкости поры (ЧР).
⎟
⎟
⎠
⎞
⎜
⎜
⎝
⎛
⋅
−
+=
гд
г
вин
d
dd
UU
ε
1
.
или (1.104)
()
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−
+
⋅
=
d
d
d
U
E
г
г
в
ин
1
1
.
ε
ε
. (1.105)
Рис.1.36. Эквивалентная схема
замещения диэлектрика с воздуш-
ным включением:
С
д
- емкость диэлектрика;
С
в
- емкость воздушного включения;
С
о
- емкость диэлектрика без поры

Страницы