Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 122 стр.

k2⊥, в спектрах УФС много особенностей, отражающих
зонную структуру. Для δk⊥ есть приближенная формула
   δk⊥ ≈ EBzkBz/3 (Ef+v).
Следовательно, при больших Ef δk⊥ уменьшается, все на-
чальные состояния (с энергией Ei=Ef—ħω) возбуждаются с
одинаковой вероятностью. Поэтому в случае режима плот-
ности состояний или рентгеновской фотоэлектронной
спектроскопии спектры отражают особенности в плотно-
сти состояний и не чувствуют зонную структуру.
    При энергиях фотонов порядка десятка электрон-вольт
фотоэлектронные спектры характеризуют плотность со-
стояний. Преимущества использования при этом СИ сле-
дующие (по сравнению с Аl кα и др.): а) лучшее разреше-
ние, так как обычно разрешение анализатора ∆E пропор-
ционально Е, т. е. выигрыш по разрешению в 100—200 раз;
б) возможность наблюдать зависимости
Рис. 2.25. Интенсивность фото-
эмиссии 3d-электронов Zn из
металлоорганической молекулы
Zn—PC при разной энергии фо-
тонов СИ




спектров от ħω, что очень важно; в) лучшая чувствитель-
ность к состоянию поверхности.
   В режиме УФС можно работать, в основном используя
только СИ. С помощью этого метода можно получать од-
новременно информацию об энергии и импульсе. На рис.

                            - 121 -