Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 148 стр.

пути в развитии техники (микролитография, рентгеновская
топография, элементный анализ и др.).
   Одно из наиболее перспективных направлений развития
техники источников излучения, рождаемого релятивист-
скими частицами, является создание сверхъярких и сверх-
жестких источников СИ и ОИ с рекордными параметрами,
а также расширение сферы их применения.
   В связи с этим кратко остановимся на проблеме яркости
источников релятивистского излучения электронов. Новые
возможности повышения яркости источников связаны с
достижениями в создании накопительных колец, характе-
ризуемых малым эмиттансом и имеющих малый угол ис-
пускания излучения. Яркость источника — характерис-
тика, связанная с эмиттансом, — определяется числом фо-
тонов, испускаемых в секунду с единицы площади протя-
женного источника в единичный телесный угол. Яркость,
как это следует из ее определения, является весьма анизо-
тропной величиной, и ее значение сильно возрастает с
уменьшением конуса излучения.
   Как мы уже отмечали, угловое распределение мощнос-
ти излучения, испускаемого электроном при прохождении
им поворотного магнита, сосредоточено в области угла
θ~γ-1. То же наблюдается и в случае малопериодного онду-
лятора и виглера, характеризуемых некогерентной супер-
позицией мгновенно возникающих полей излучения. Одна-
ко положение резко изменяется в случае многопериодных
ондуляторов, которым присуща сильная концентрация
мощности излучения в узком конусе с угловым раствором
θ~(γ√N)-1, N>>1, являющаяся следствием когерентной ин-
терференции излучения.
   Малый эмиттанс создает особые условия для повы-
шения яркости источника. И если сравнить по яркости
синхротронное излучение, излучение из виглера, излуче-
ние из многопериодного когерентного ондулятора, пре-

                         - 147 -