Аналоговые измерительные устройства. Миляев Д.В. - 15 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

15
4.5. По данным эксперимента можно количественно определить степень
отличия мультипликативных погрешностей в разомкнутых и замкну-
тых схемах.
;
)(
)(
1
n
K
K
K
K
б
a
g
g
g
g
=
∆
∆
;
)(
)(
2
n
K
K
K
K
б
a
RC
RC
RC
RC
=
∆
∆
5.КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ К ЗАДАНИЮ.
5.1. Написать основные соотношения для получения коэффициента пре-
образования параллельной структурной схемы.
5.2. Вывести формулы для абсолютной и относительной мультиплика-
тивных погрешностей для параллельной схемы.
5.3. Вывести формулы для аддитивной погрешности.
5.4. Почему компенсационные устройства называют статическими?
5.5. Как пояснить уменьшение мультипликативной погрешности и неиз-
менность аддитивной погрешности в параллельной схеме?
5.6. Как будет вести параллельная схема при
X
R
C
=
β
,
т.е при
R
R
=
1
, а
X
C
R
C
1
1
2
=
⋅
=
ω
?
6. ОТЧЕТ ПО РАБОТЕ.
6.1. Цель работы.
6.2. Программа работы.
6.3. Электрические схемы, данные эксперимента.
6.4. Расчеты по данным эксперимента.
6.5. Выводы по работе.
7. ЛИТЕРАТУРА
7.5. Конспект лекций по курсу «Аналоговые измерительные устройства».
(Миляев Д.В).
7.6. Аналоговые электроизмерительные приборы: Учебное пособие для
Вузов / под редакцией А.А. Преображенского. М.: Высшая школа,
1979, 352 стр.

Страницы