ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
По этой формуле была рассчитана (рис. 1.16) относительная амплитуда вектора напряженности
электрического поля на расстоянии 6 мм от границы раздела в зависимости от координаты х для случая,
когда ε
2
= 3,0, ε
4
= 5,0, λ
0
= 8,0 мм. Глубины залегания h дефектов, представляющих собой цилиндры
диаметром 2 мм и высотой 8 мм, составляли 5, 10 и 15 мм, а толщина слоя 30 мм.
Рис. 1.16 Амплитуда электромагнитной волны перед слоем с инородным
включением на различной глубине (указана на кривых)
Как следует из расчетов, сигнал, воспринимаемый антенной, движущейся в непосредственной
близости от диэлектрика с инородным включением, будет зависеть от высоты расположения антен-
ны над границей раздела, разности диэлектрических проницаемостей среды и включения, глубины
залегания включения и мощности источника, создающего внешнее поле. Электромагнитное поле
вблизи диэлектрика с включением имеет дифракционный характер.
На рис. 1.17 показана схема расположения слоя на металлической подложке с дефектом в виде рас-
слоения. Выражение (1.13) может быть использовано для расчета коэффициента отражения для двух-
слойного покрытия, находящегося на металлической подложке. В такой конструкции основным дефек-
том являются дефекты клеевых прослоек.
Контроль различных клеевых конструкций амплитудным методом возможен также и «на про-
хождение». В этом случае невозможно установить принадлежность дефекта тому или иному слою, а
также глубину его залегания, но сам факт наличия дефекта в данном конкретном месте расположе-
ния приемно-излучающей антенны может быть установлен. Для определения глубины залегания
дефекта используются специальные методы, которые рассматриваются [6, 7].
Е
2
θ
Е
1
Е
0
z
y
θ
ε
2
ε
3
ε
0
= 1
d
2
d
3
2 3 4
x, мм
5 мм
Е
10
15
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 25
- 26
- 27
- 28
- 29
- …
- следующая ›
- последняя »
