ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Рис. 1.17 Схема падения плоскополяризованной волны на плоский слой
с металлической подложкой
Схемы дефектоскопов, работающие по амплитудному методу «на прохождение» и «на отражение»,
просты и включают приемно-излучающую антенну, генератор микрорадиоволн, детектор, измеритель-
ный усилитель и регистрирующее устройство, в качестве которого могут быть использованы самопи-
сец, осциллограф, фотоприставки и т.д.
На рис. 1.18 приведена одна из распространенных схем дефектоскопа, работающего «на прохожде-
ние» амплитудным методом. Электромагнитные колебания, излученные генератором 2, распространя-
ясь по волноводному тракту 3, достигают излучающей антенны 5, излучаются в свободное пространст-
во и проходят через стенку контролируемого изделия. Прошедшая энергия воспринимается приемной
антенной 6, детектируется и после усиления измерительным усилителем 8 поступает на регистрирую-
щее устройство 9. С перемещением контролируемого изделия относительно срезов антенны интенсив-
ность прошедшей волны будет меняться в зависимости от изменения свойств подводимых к антеннам
участков изделия. Наличие дефекта в стенке изделия приводит к изменению интенсивности прошедшей
волны. Это изменение будет зафиксировано регистрирующим устройством.
При работе «на отражение» приемно-излучающая антенна устанавливается с одной стороны контроли-
руемого изделия. Причем при одностороннем доступе к изделию могут быть использованы совме-
щенные приемно-передающие антенны и раздельные антенны. Использование раздельных прием-
ной и излучающей антенн позволяет проводить контроль клеевых изделий, так как, подбирая
первоначальный угол падения волны,
Рис. 1.18 Схема дефектоскопа «на прохождение»:
1 – блок питания; 2 – генератор; 3 – волноводный тракт; 4 – аттенюатор;
5, 6 – излучающая и приемная антенны; 7 – детектор; 8 – усилитель;
9, 10 – регистрирующие устройства.
можно добиться такого положения, чтобы отраженная от определенного слоя энергия микрорадиоволн
была максимальной (или минимальной при угле падения равном углу Брюстера).
Амплитудный метод контроля может быть использован для обнаружения локальных диэлектриче-
ских дефектов, эффективный диаметр которых d
эф
= 0,2λ
0
и различие по диэлектрической проницаемо-
сти ∆ε = 0,5, а также расслоений с раскрытием порядка 0,03λ
0
и площадью S = 2,5 см
2
. Выявляемость
дефектов определяется выбором расстояния между приемно-излучающей антенной и поверхностью
контролируемого изделия. В зависимости от расстояния до контролируемого объекта интенсивность
сигнала, прошедшего через бездефектный участок, и интенсивность сигнала, прошедшего через де-
фектный участок, будут различны. Этот относительный перепад сигнала можно характеризовать коэф-
фициентом контрастности:
0
0Д
J
JJ −
=β
,
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 26
- 27
- 28
- 29
- 30
- …
- следующая ›
- последняя »
