Измерение и контроль геометрических параметров деталей машин и приборов. Муслина Г.Р - 210 стр.

UptoLike

239
Сущность метода светового сечения заключается в следующем (рис. 93).
Освещенная узкая щель S проецируется микроскопом А
1
на поверхности Р
1
и
Р
2
, образующие ступеньку высотой h. Изображение щели на поверхности Р
1
займет положение S '
1
, а поверхности Р
2
положение S '
2
. В поле зрения мик-
роскопа А
2
, ось которого расположена под углом 90° к оси проецирующего
микроскопа, изображение щели будет иметь вид световой ступеньки. Размер
ступеньки b, соответствующий смещению изображения S"
2
относительно S"
1
служит мерой высоты ступеньки h (высоты неровностей). По принципу свето-
вого сечения работают приборы МИС-11, ПСС-1 и др. Оптическая схема двой-
ного микроскопа МИС-11 приведена на рис. 94.
S
2
Ось проецирующего
микроскопа А
1
Ось микроскопа
наблюдения А
2
Р
2
Р
1
h
S
1
S′′
2
S′′
1
Поле зрения
b
Рис. 93. Принципиальная схема метода светового сечения
b
А
2
А
1
О
2
О
1
S
h
Р
1
Р
1
Р
2
Р
2
S
2
S
1
S′′
1
S′′
2
Рис. 94. Оптическая схема двойного микроскопа