Измерение и контроль геометрических параметров деталей машин и приборов. Муслина Г.Р - 212 стр.

UptoLike

241
8.2.1. Описание двойного микроскопа МИС-11
Двойной микроскоп предназначен для визуальной оценки, измерения и
фотографирования высоты неровностей наружных поверхностей деталей.
Принцип действия прибора основан на методе светового сечения.
Техническая характеристика двойного микроскопа МИС-11
Диапазон измерений Rz, Rmax, мкм 40 … 0,8
S, мм
2,5 … 0,002
Диапазон перемещения предметного
столика в двух взаимно перпенди-
кулярных направлениях, мм
10
Цена деления барабана микровинта
перемещения предметного столика, мм
0,01
Цена деления объект-микрометра, мм
0,01
Прибор питается от сети переменного тока напряжением 127 или 220 В
через понижающий трансформатор. В ос ветителе используется лампа 6,3 В.
69. Характеристика прилагаемого набора объективов
Диапазон
измерений,
мкм
Шифр объ-
ектива
Фокусное
расстояние
объектива,
мм
Апертура Увеличе-
ние объек-
тива с до-
полнит.
линзой
F = 147 мм
Поле зре-
ния
Погреш-
ность из-
мерений в
% от изме-
ряемой ве-
личины
6,0 … 80 ОС-39 25,0 0,13 5,9 1,8 6 … 22
3,0 … 20 ОС-40 13,9 0,30 10,6 1,0 10 … 25
1,6 … 10 ОС-41 8,2 0,37 18,0 0,6 12 … 30
0,8 … 3,2 ОС-42 4,3 0,50 34,5 0,3 25 … 32
Салазки корпуса микроскопов 10 перемещают по направляющим крон-
штейна при помощи реечной передачи вращением винта 12 (рис. 95). В корпусе
помещены два микроскопа осветительный 20 и визуальный 5.
В микроскопе 20 имеется прямолинейная щель, освещаемая источником
света. Изображение щели на изделии рассматривают с помощью микроскопа 5,
снабженного окулярным микрометром 8, с увеличением 15Х.