ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
57
образца. Если сканирование проводится в направлении перпендикулярном продольной
оси кантилевера (в латеральном направлении) силы трения вызывают его скручивание.
Измеряя это скручивание с помощью четырехсекционного фотодетектора, можно
одновременно с отображением рельефа отображать также и распределение сил трения по
поверхности образца.
Вопрос 52. Что такое полуконтактные методы в атомно-силовом
микроскопе?
Использование колеблющегося кантилевера в сканирующей силовой микроскопии
впервые было предложено Биннигом. Одни из наиболее ранних экспериментальных
реализаций зондовой микроскопии с колеблющимся кантилевером были представлены в
работах. В них было продемонстрировано влияние градиентов сил на сдвиг резонансной
частоты кантилевера и возможность бесконтактного сканирования поверхности образца.
Необходимо отметить также, что ранее Дюриг изучал частотный сдвиг колеблющегося
кантилевера в силовом поле иглы сканирующего туннельного микроскопа.
Была продемонстрирована также возможность зондирования материалов при резком
уменьшении амплитуды колебаний кантилевера. Возможность сканирования поверхности
образца не только в притягивающих, но и в отталкивающих силах была также
продемонстрирована. Относительно слабый сдвиг частоты колебаний под влиянием
отталкивающих сил означает, что контакт зонда с поверхностью образца в процессе
колебаний не является постоянным. Только в течение короткой части периода колебаний
зонд «ощущает» контактные отталкивающие силы. Особенно это касается колебаний с
большой амплитудой.
Рис.44. Схематичное представление принципа выбора рабочей точки. Z
0
– расстояние
между острием зонда и поверхностью.
Сканирование поверхности образца с колеблющимся кантилевером является не
бесконтактным, а скорее прерывисто-контактным. Выбор расстояния от поверхности
образца до острия зонда или выбор рабочей точки осуществляется из условия изменения
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 55
- 56
- 57
- 58
- 59
- …
- следующая ›
- последняя »
