Изучение биологических объектов методами атомно-силовой микроскопии. Нагорнов Ю.С. - 10 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

1.2 Техника измерений атомно-силовой микроскопии

Получение АСМ изображений рельефа поверхности связано с регистрацией малых изгибов

упругой консоли зондового датчика. В атомно-силовой микроскопии для этой цели широко

используются оптические методы (рис. 4).

Оптическая система АСМ юстируется таким образом, чтобы излучение

полупроводникового лазера фокусировалось на консоли зондового датчика, а отраженный

пучок попадал в центр фоточувствительной области фотоприемника [1]. В качестве

позиционно чувствительных фотоприемников применяются четырехсекционные

полупроводниковые фотодиоды. Основные регистрируемые оптической системой параметры -

это деформации изгиба консоли под действием Z-компонент сил притяжения или отталкивания

( F Z) и деформации кручения консоли под действием латеральных компонент сил ( F L)

взаимодействия зонда с поверхностью. Если обозначить исходные значения фототока в

секциях фотодиода через Ioi, I02, I03, I04,а через Ii, I2, I3, I4 - значения токов после изменения

положения консоли, то разностные токи с различных секций фотодиода будут однозначно

характеризовать величину и направление изгиба консоли зондового датчика АСМ.

Действительно, разность токов вида

пропорциональна изгибу консоли под действием силы, действующей по нормали к

поверхности образца (рис. 5(а)). А комбинация разностных токов вида

характеризует изгиб консоли под действием латеральных сил (рис. 5(б)).