ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
В общем случае данная сила имеет как нормальную к поверхности, так и латеральную
(лежащую в плоскости поверхности образца) составляющие. Реальное взаимодействие зонда с
образцом имеет более сложный характер, однако основные черты данного взаимодействия
сохраняются - зонд АСМ испытывает притяжение со стороны образца на больших расстояниях
и отталкивание на малых.
Рассмотрим общие черты, присущие различным зондовым микроскопам. Пусть
взаимодействие зонда с поверхностью характеризуется некоторым параметром Р. Если
существует достаточно резкая и взаимно однозначная зависимость параметра Р от расстояния
зонд – образец Р=Р(z), то данный параметр может быть использован для организации системы
обратной связи (ОС), контролирующей расстояние между зондом и образцом. На рис. 3
схематично показан общий принцип организации обратной связи сканирующего зондового
микроскопа.
Рис.3. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа [1].
Система обратной связи поддерживает значение параметра Р постоянным, равным
величине Ро, задаваемой оператором. Если расстояние зонд – поверхность изменяется
(например, увеличивается), то происходит изменение (увеличение) параметра Р. В системе ОС
формируется разностный сигнал, пропорциональный величине ΔP = P - Po , который
усиливается до нужной величины и подается на исполнительный элемент ИЭ.
Исполнительный элемент отрабатывает данный разностный сигнал, приближая зонд к
поверхности или отодвигая его до тех пор, пока разностный сигнал не станет равным нулю.
8
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 6
- 7
- 8
- 9
- 10
- …
- следующая ›
- последняя »
