Послойное исследование элементного и химического состава приповерхностных слоев твердых тел. Никитенков Н.Н. - 34 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

34
интервалы опроса датчика вторичных ионов 0,05; 0,1; 0,3; 0,5; и
1 с;
автоматический выбор диапазона измерения амплитуды
вторичных ионов в пределах от 0 до 150 В;
скорость развѐртки спектра масс для любого интервала опроса
составляет 0,16; 0,32 и 20 а.е.м./с;
программа записи данных разработана на языке DELPHI–3 и
управляется из-под WINDOWS 98(95), ХР;
запись данных с датчика осуществляется в формате, позволяющем
производить их дальнейшую обработку с помощью стандартных
пакетов прикладных программ общего пользования (OFFICE) или
профессиональных пакетов (MATHLAB, MATHCAD, ORIGIN и др.);
предусмотрен визуальный контроль процесса регистрации спектра
на мониторе;
имеется возможность изменения масштаба визуализации процесса
регистрации;
система разработана и реализована на базе IBM совместимого
компьютера с процессором Pentium II; связь с ПК осуществляется через
последовательный интерфейс RS 232С;
2. Порядок выполнения работы
1. Получить в аналитической камере сверхвысокий вакуум (см.
лабораторную работу №1).
2. Запустить ионный источник и получить ионный пучок (см.
лабораторную работу №2).
Регулируемый
усилитель
1:10:100:1000
А.Ц.П.
Контроллер
АТ 89
С 2051
Опто
раз-
вязка
Формирователь
счёта импульсов
Блок Питания
Драйвер
RS 232
HP 203
Управление
системой
Вх.U
Вх.М
К ПК
Rs232


+5
Рис. 5. Блок схема системы регистрации.