Перспективы применения наноматериалов в космической технике. Новиков Л.С - 73 стр.

                                    Методы производства наноматериалов

                Измерение
             положения зонда


                      3
              4
                                                 Блок управления
                                                 и обратной связи
                                2

       1
                                                     Компьютер



             Позиционирование
              зонда и образца

  Рис. 2.7. Схема атомно-силового микроскопа: 1 – исследуемый
  образец; 2 – кантилевер с зондом; 3 – лазер; 4 – фотоприемник

  Зонды обычно изготавливаются из тугоплавких металлов.
Микрофотография зонда, изготовленного из вольфрама, приведе-
на на рис. 2.8а. В качестве зондов могут использоваться также
УНТ с металлической проводимостью. Изображение закреплен-
ного на кантилевере зонда с УНТ на его конце показано на
рис. 2.8б. Использование зондов с УНТ позволяет повысить раз-
решение микроскопа.
  Описанные зондовые микроскопы обеспечивают значительно
лучшую по сравнению с электронными микроскопами прора-




   100 мкм                                  10 мкм

                  а                                      б
  Рис. 2.8. Изображение обычного зонда (а) и зонда с УНТ на конце(б)

                                                                       73