Перспективы применения наноматериалов в космической технике. Новиков Л.С - 72 стр.

Раздел 2

зонда, а во втором – величине туннельного тока над каждой точ-
кой поверхности. Разрешение зондового микроскопа зависит, в
                                первую очередь, от радиуса
   I                            острия зонда, который обычно
                                не превышает 10 нм, а в пре-
                                дельном случае соответствует
                                размерам одного атома.
   h
                                   С помощью сканирующего
                                туннельного микроскопа можно
                                изучать только проводящие
                                объекты. Изобретение в 1986 г.
                 а              атомно-силового микроскопа,
   I                            одним из создателей которого
                                вновь являлся Г. Бинниг, позво-
                                лило распространить зондовый
                                метод исследований на непро-
   h
                                водящие вещества. В атомно-
                                силовом микроскопе зонд, пе-
                                ремещение которого в гори-
                                зонтальной плоскости над ис-
                 б              следуемой поверхностью про-
   Рис. 2.6. Режимы работы тун- изводится так же, как в скани-
   нельного микроскопа: а – по- рующем      туннельном    мик-
   стоянный ток; б – постоянная
                                роскопе, закреплен на упругом
   высота зонда
                                элементе, за которым даже в
                                русскоязычной литературе ут-
вердилось название «кантилевер» (от англ. cantilever – консоль,
кронштейн). В этом устройстве информацию о рельефе поверх-
ности дают вертикальные смещения зонда, вызываемые силами
его взаимодействия с находящимися на поверхности атомами.
Регистрация смещений обычно производится с помощью от-
раженного от конца кантилевера лазерного луча, который вос-
принимается фотодиодной матрицей (рис. 2.7). Достоинствами
зондовых микроскопов являются их относительная простота и
компактность.

72