Основы масс-спектрометрии. - 12 стр.

может быть зарегистрирована масс-спектрометром. Поверхностная
ионизация используется при анализе веществ с низким потенциалом
ионизации, например, щелочных металлов.
    При искровой ионизации между твёрдым образцом и тонким электродом
возбуждается высокочастотный вакуумный разряд, в результате чего
материал образца распыляется и ионизируется в образовавшейся плазме. При
таком способе ионизации в основном образуются атомарные ионы с большим
разбросом по начальным кинетическим энергиям, что требует применения
масс - анализатора с двойной фокусировкой. Искровая ионизация
используется для элементарного анализа металлов, полупроводников и
различных минералов.
    Если твёрдый образец облучать мощным лазерным пучком, то
происходит интенсивное испарение вещества и его ионизация в
образующемся над поверхностью плазменном сгустке. Лазерная ионизация
может быть использована для анализа не только проводящих материалов, но
и диэлектриков.
    При бомбардировке поверхности твёрдого тела или нелетучей жидкости
пучком ускоренных атомных частиц (ионов или атомов) происходит
распыление вещества в виде заряженных и нейтральных частиц.
Образующиеся таким образом ионы могут быть использованы для масс-
спектрального     анализа.   В    качестве    бомбардирующих     частиц
предпочтительно использовать быстрые нейтральные атомы, которые можно
получить путём перезарядки ионного пучка, т.к. при анализе диэлектриков
ионный пучок будет заряжать поверхность образца, что сильно затруднит
сбор вторичных ионов. В настоящее время ионизация быстрыми атомами
широко используется при анализе металлов, полупроводников и различных
диэлектрических материалов. Особенно эффективным оказался этот метод
для исследования высокомолекулярных органических и биоорганических
соединений, т.к. удаётся получить масс - спектры веществ с молекулярной
массой в несколько тысяч, в которых кроме осколочных ионов наблюдаются
протонированные молекулярные ионы типа [M + H]+.
     Для   регистрации    ионов    в   масс-спектрометрах   используют
электрометрические усилители и вторично-электронные умножители
открытого типа. Электрометрический усилитель позволяет измерять токи до
10¯¹³ мА. При использовании электронного умножителя ионный пучок
направляется непосредственно на первый диод (электрод) умножителя.
Коэффициент усиления умножителя по току достигает 1000000, что
позволяет проводить регистрацию отдельных ионов.
    Современные масс-спектрометры для научных исследований обладают
разрешающей способностью в несколько десятков тысяч, укомплектованы
набором ионных источников разного типа, имеют высокую чувствительность
и скорость регистрации масс-спектров. Обычно масс-спектрометры