Основы масс-спектрометрии. - 8 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МФТИ | Москва

Рубрика: 

m
eB
f
π
2
=
(5).
Эти ионы, называемые резонансными, отдают свой заряд коллектору,
которого не могут достичь ионы другой массы. При изменении частоты
приложенного электрического поля на коллектор ионов попадают частицы с
различным отношением
e
m
. Для однозарядных ионов
кГц
M
H
f 52,1=
, где
где индукция магнитного поля –
Н – Гаусс, М – относительная единица
массы. Каждой собранной группе частиц с одной и той же массой
соответствует пик ионного тока, амплитуда которого пропорциональна
количеству собранных ионов и ширина которого является функцией
приложенных электрического и магнитного полей. Ширина основания пика
по частоте равна
Гц
Br
E
f
0
2
2
π
=∆
, где где - расстояние от коллектора ионов
до оси электронного пучка в см
,
0
r
E
– амплитуда напряжённости поля высокой
частоты в ед.
СГСМ/1вольт = 10
8
ед. СГСМ.
Разрешающая способность прибора
f
f
Em
reB
m
m
∆
==
∆
=
2
0
2
ρ
.Для
лабораторного прибора
смr 85.0
0
=
,
ГсИ 3000
=
, расстояние между
высокочастотными пластинами
смl 2
=
,
кГц
m
f ==
4560
;
;
кГцUf
e
25.6=∆
mU
e
740
=
ρ
, – амплитуда высокочастотного напряжения в
вольтах,
e
U
l
U
E
e
=
.
Назначение и возможности масс-спектрометра в значительной степени
определяются типом ионных источников, которыми он укомплектован.
Источники разделяются на два основных класса: газовые источники и
источники для анализа твёрдых веществ. В ионных источниках первого типа
вещество в области ионизации находится в газообразном состоянии. Для
ионизации газа чаще всего используют быстрые электроны. Устройство
такого ионного источника показано на рис.№7. 
                                                     eB
                                           f =                                             (5).
                                                    2πm
    Эти ионы, называемые резонансными, отдают свой заряд коллектору,
которого не могут достичь ионы другой массы. При изменении частоты
приложенного электрического поля на коллектор ионов попадают частицы с
                        m                                   H
различным отношением      . Для однозарядных ионов f = 1,52 кГц , где
                        e                                   M
где индукция магнитного поля – Н – Гаусс, М – относительная единица
массы. Каждой собранной группе частиц с одной и той же массой
соответствует пик ионного тока, амплитуда которого пропорциональна
количеству собранных ионов и ширина которого является функцией
приложенных электрического и магнитного полей. Ширина основания пика
                              2E
по частоте равна ∆f =               Гц , где где r0 - расстояние от коллектора ионов
                             2πr0 B
до оси электронного пучка в см, E – амплитуда напряжённости поля высокой
частоты в ед. СГСМ/1вольт = 108 ед. СГСМ.
                                                                        m   eB 2 r0   f
    Разрешающая               способность            прибора         ρ=   =         =   .Для
                                                                        ∆m 2 Em ∆f
лабораторного      прибора          r0 = 0.85см ,    И = 3000 Гс ,     расстояние      между
                                                                                   4560
высокочастотными                  пластинами          l = 2см ,              f =        = кГц ;
                                                                                    m
                         740
∆f = 6.25U e кГц ; ρ =        ,    U e – амплитуда высокочастотного напряжения в
                         U em
               Ue
вольтах, E =      .
                l
    Назначение и возможности масс-спектрометра в значительной степени
определяются типом ионных источников, которыми он укомплектован.
Источники разделяются на два основных класса: газовые источники и
источники для анализа твёрдых веществ. В ионных источниках первого типа
вещество в области ионизации находится в газообразном состоянии. Для
ионизации газа чаще всего используют быстрые электроны. Устройство
такого ионного источника показано на рис.№7.

Страницы