Поверхностные явления и дисперсные системы. Пальтиель Л.Р - 16 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

ние молекулярных масс высокомолекулярных соединений (ВМС) и мицелляр-

ных масс ПАВ по методу Дебая. Метод малоуглового рассеяния рентгеновского

излучения.

Ультрамикроскопия и ее возможности. Конденсоры темного поля. Оп-

ределение концентрации золей и размеров частиц. Поточный ультрамикроскоп.

Световая и электронная микроскопия как методы исследования размеров и

форм частиц.

Вопросы для самопроверки

1. Какие оптические явления наблюдаются при падении луча света на дис-

персную систему?

2. Какие оптические методы используются для определения размеров частиц

дисперсных систем?

3. Чем обусловлено светорассеяние в дисперсных системах и истинных рас-

творах?

4. В чем заключаются основные характеристики методов электронной мик-

роскопии, ультромикроскопии, нефелометрии и турбидиметрии?

1.2.5. Агрегативная устойчивость и коагуляция

дисперсных систем

[1], с. 270...354

Общие вопросы устойчивости дисперсных систем. Седиментационная и

агрегативная устойчивости дисперсных систем. Лиофильные и лиофобные дис-

персные системы: самопроизвольное образование одних и необходимость ста-

билизации других. Процессы в дисперсных системах, обусловленные агрега-

тивной неустойчивостью. Коагуляция как результат потери агрегативной ус-

тойчивости. Два варианта завершения коагуляции: разделение фаз и структуро-

образование. Понятие о расклинивающем давлении и его составляющих. Тер-

модинамические и кинетические факторы устойчивости дисперсных систем.