Определение внутренних напряжений в металлах. Панова Т.В - 3 стр.

UptoLike

Рубрика: 

5
ет важное значение в практике, так как позволяет значительно по-
вышать надежность изделий в эксплуатации.
Основой рентгеноструктурного метода определения зональ-
ных искажений является то, что все атомные плоскости во всех кри-
сталлитах поликристалла, одинаково ориентированные по отноше-
нию к действующим упругим силам, однородно меняют свои меж-
плоскостные расстояния (для них
d
d
= const ).
Напряжения на поверхности образца (рис. 1) можно разло-
жить на главные (σ
1
, σ
2
и σ
3
), которые являются нормальными и
тангенциальными (к поверхности образца).
Рис. 1. Угловые соотношения между главными напряжениями
σ
1
,
σ
2
,
σ
3
,
измеряемым напряжением
σ
ϕ
и координатными осями х, у, z
Нормальная составляющая напряжения σ
3
нa поверхности рав-
на нулю. Строго говоря, σ
3
= 0 только при плосконапряженном со-
стоянии, но в большинстве случаев величиной σ
3
можно пренебречь.
Упругая деформация в поверхностных слоях образца в на-
правлении, перпендикулярном поверхности образца, будет
)(
E
21
σ+σ
µ
=ε , (1)
где Емодуль упругости (модуль Юнга);
µ
коэффициент Пуассона.
6
Если напряжения σ
1
и σ
2
растягивающие, то
ε
будет дефор-
мацией сжатия и наоборот. Чтобы определить
ε
, необходимо найти
величину изменения межплоскостных расстояний d в атомных
плоскостях, параллельных поверхности образца, поскольку
ε
=
d
d
.
В этом случае
)(
E
d
d
21
σ+σ
µ
=
или
d
dE
)(
µ
=σ+σ
21
. (2)
Определение
d
d
может быть произведено съемкой рентгено-
грамм с поверхности ненапряженного и напряженного образцов.
При этом должны быть соблюдены следующие условия:
1. Излучение и отражающие плоскости должны быть подоб-
раны так, чтобы угол отражения был максимально близок к 83–85°
(практически он равен 75–85°).
Рекомендуемые излучения для разных металлов и сплавов да-
ны в таблицах
приложения [2].
2. Линии рентгенограммы должны быть острыми и четкими.
Для этого следует пользоваться малыми диафрагмами и хорошо
подготавливать поверхность образцов.
Ошибка в нахождении d = ±0,0001 кХ может привести при
съемке стальных образцов к ошибке в определении σ
1
+ σ
2
= 1,7
кг/мм
2
.
Более сложной является задача определения величины напря-
жения, действующего на поверхности в данном конкретном направ-
лении (напряжение σ
ϕ
, см. рис. 1).
Экспериментально задача анализа макронапряжений сводится
к точному определению межплоскостных расстояний. Существует
ряд методик определения напряжений I-рода при съемке дебаеграмм
и рентгенограмм, суть некоторых приведена ниже:
1. При определении суммы главных напряжений используют
соотношение:
σ
1
+
σ
2
=
−Ε
/
µ
[( d
– d
0
) / d
0
],
где d
0
межплоскостное расстояние для ненапряженного материала;
ет важное значение в практике, так как позволяет значительно по-             Если напряжения σ1 и σ2 – растягивающие, то ε будет дефор-
вышать надежность изделий в эксплуатации.                               мацией сжатия и наоборот. Чтобы определить ε, необходимо найти
      Основой рентгеноструктурного метода определения зональ-           величину изменения межплоскостных расстояний d в атомных
ных искажений является то, что все атомные плоскости во всех кри-                                                                     ∆d
сталлитах поликристалла, одинаково ориентированные по отноше-           плоскостях, параллельных поверхности образца, поскольку ε =      .
                                                                                                                                       d
нию к действующим упругим силам, однородно меняют свои меж-                  В этом случае
                                     ∆d                                                           ∆d    µ
плоскостные расстояния (для них         = const ).                                                   = − ( σ1 + σ 2 )
                                      d                                                            d    E
      Напряжения на поверхности образца (рис. 1) можно разло-                или
жить на главные (σ1, σ2 и σ3), которые являются нормальными и                                                       E ∆d
                                                                                                 ( σ1 + σ 2 ) = −        .             (2)
тангенциальными (к поверхности образца).                                                                            µ d
                                                                                             ∆d
                                                                             Определение        может быть произведено съемкой рентгено-
                                                                                              d
                                                                        грамм с поверхности ненапряженного и напряженного образцов.
                                                                        При этом должны быть соблюдены следующие условия:
                                                                               1. Излучение и отражающие плоскости должны быть подоб-
                                                                        раны так, чтобы угол отражения был максимально близок к 83–85°
                                                                        (практически он равен 75–85°).
                                                                               Рекомендуемые излучения для разных металлов и сплавов да-
                                                                        ны в таблицах приложения [2].
                                                                               2. Линии рентгенограммы должны быть острыми и четкими.
                                                                        Для этого следует пользоваться малыми диафрагмами и хорошо
                                                                        подготавливать поверхность образцов.
                                                                               Ошибка в нахождении d = ±0,0001 кХ может привести при
                                                                        съемке стальных образцов к ошибке в определении σ1 + σ2 = 1,7
 Рис. 1. Угловые соотношения между главными напряжениями σ1, σ2, σ3,    кг/мм2.
       измеряемым напряжением σϕ и координатными осями х, у, z                 Более сложной является задача определения величины напря-
                                                                        жения, действующего на поверхности в данном конкретном направ-
     Нормальная составляющая напряжения σ3 нa поверхности рав-          лении (напряжение σϕ, см. рис. 1).
на нулю. Строго говоря, σ3 = 0 только при плосконапряженном со-                Экспериментально задача анализа макронапряжений сводится
стоянии, но в большинстве случаев величиной σ3 можно пренебречь.        к точному определению межплоскостных расстояний. Существует
     Упругая деформация в поверхностных слоях образца в на-             ряд методик определения напряжений I-рода при съемке дебаеграмм
правлении, перпендикулярном поверхности образца, будет                  и рентгенограмм, суть некоторых приведена ниже:
                                 µ                                             1. При определении суммы главных напряжений используют
                           ε=−     ( σ1 + σ 2 ) ,                 (1)   соотношение:
                                 E
где Е – модуль упругости (модуль Юнга); µ – коэффициент Пуассона.                           σ1 + σ2 = −Ε / µ [( d⊥– d0) / d0],
                                                                        где d0 – межплоскостное расстояние для ненапряженного материала;
                                   5                                                                        6