Рентгенографический анализ преимущественных ориентировок (текстур). Панова Т.В - 4 стр.

UptoLike

Рубрика: 

7
Рис. 3. Вид рентгенограммы материала с аксиальной текстурой
(молибденовая проволока, медное излучение)
Рис. 4. Схема образования рентгенограммы в случае идеальной
аксиальной текстуры: 1 – ось проволоки; 2 – пленка; 3 – дебаевское
кольцо; 4 – сфера-узел ОР нетекстурованного материала; 5 – узел ОР
материала с идеальной аксиальной текстурой; 6 – сфера Эвальда;
7 – текстурные максимумы
8
Таким образом, анализ аксиальной текстуры требует расчета
угла
ϑ
по известным длине волны и периодам кристаллической
решетки.
По рентгенограмме (рис. 4) можно определить значения углов
δ
для отражений от плоскостей с известными индексами {hkl} под
известным углом
ϑ
. Зная
ϑ
и
δ
, по формуле (1) находят
ρ
. Даль-
нейший анализ сводится к определению индексов оси текстуры
]uvw[
, используя известные выражения для угла между двумя на-
правлениями.
Например, для кубических кристаллов угол
ρ
между норма-
лью к плоскости {hkl} и направлением
]uvw[
определяется выра-
жением
222 222
()
cos
()
Hu K Lw
H
KL uvw
ν
ρ
++
=
++× ++
, (2)
где
u,
ν
, wиндексы оси текстуры.
Для известных hkl подбирают такие значения
u
,
v
и
w
, что-
бы
ρcos
из выражения (2) был близок к значению, определенному
экспериментально по уравнению (1). Обычно анализ ведут по двум
первым линиям с разными HKL независимо, чтобы однозначно най-
ти индексы оси текстуры
uvw
.
Степень совершенства текстуры
ρ
можно определить по по-
луширине текстурных максимумов
δ
(в угловых единицах) из вы-
ражения, получаемого дифференцированием по
и
δ
формулы (1):
sin cos
sin
δϑ
ρ
δ
ρ
=∆
.
Построение ППФ материалов с аксиальной текстурой обычно
не проводят, так как это не дает никакой дополнительной информа-
ции.
Анализ аксиальной текстуры целесообразно проводить по ли-
ниям с малыми индексами в связи с тем, что они обычно достаточно
интенсивны и из-за малого числа плоскостей в совокупности {hkl}
могут иметь лишь 2–3 разных
значения углов
ρ
с осью текстуры.
Это важно, если степень совершенства текстуры мала. Тогда при
большом числе разных значений
ρ
текстурные максимумы пере-
                                                                            Таким образом, анализ аксиальной текстуры требует расчета
                                                                      угла ϑ по известным длине волны и периодам кристаллической
                                                                      решетки.
                                                                            По рентгенограмме (рис. 4) можно определить значения углов
                                                                      δ для отражений от плоскостей с известными индексами {hkl} под
                                                                      известным углом ϑ . Зная ϑ и δ , по формуле (1) находят ρ . Даль-
                                                                      нейший анализ сводится к определению индексов оси текстуры
                                                                      [ uvw ] , используя известные выражения для угла между двумя на-
                                                                      правлениями.
                                                                            Например, для кубических кристаллов угол ρ между норма-
                                                                      лью к плоскости {hkl} и направлением [ uvw ] определяется выра-
  Рис. 3. Вид рентгенограммы материала с аксиальной текстурой         жением
             (молибденовая проволока, медное излучение)                                             (Hu + Kν + Lw)     ,            (2)
                                                                                         cos ρ =
                                                                                             ( H +K +L × u +v +w )
                                                                                                  2   2   2    2   2 2


                                                                      где u, ν, w – индексы оси текстуры.
                                                                             Для известных hkl подбирают такие значения u , v и w , что-
                                                                      бы cos ρ из выражения (2) был близок к значению, определенному
                                                                      экспериментально по уравнению (1). Обычно анализ ведут по двум
                                                                      первым линиям с разными HKL независимо, чтобы однозначно най-
                                                                      ти индексы оси текстуры 〈uvw〉 .
                                                                             Степень совершенства текстуры ∆ρ можно определить по по-
                                                                      луширине текстурных максимумов ∆δ (в угловых единицах) из вы-
                                                                      ражения, получаемого дифференцированием по ρ и δ формулы (1):
                                                                                                     sin δ cos ϑ
                                                                                                ∆ρ =             ∆δ .
                                                                                                         sin ρ
                                                                             Построение ППФ материалов с аксиальной текстурой обычно
                                                                      не проводят, так как это не дает никакой дополнительной информа-
                                                                      ции.
                                                                             Анализ аксиальной текстуры целесообразно проводить по ли-
                                                                      ниям с малыми индексами в связи с тем, что они обычно достаточно
   Рис. 4. Схема образования рентгенограммы в случае идеальной        интенсивны и из-за малого числа плоскостей в совокупности {hkl}
 аксиальной текстуры: 1 – ось проволоки; 2 – пленка; 3 – дебаевское   могут иметь лишь 2–3 разных значения углов ρ с осью текстуры.
кольцо; 4 – сфера-узел ОР нетекстурованного материала; 5 – узел ОР    Это важно, если степень совершенства текстуры мала. Тогда при
  материала с идеальной аксиальной текстурой; 6 – сфера Эвальда;      большом числе разных значений ρ текстурные максимумы пере-
                     7 – текстурные максимумы

                                7                                                                     8