Преломление и отражение рентгеновского излучения. Павлинский Г.В. - 37 стр.

             анализе. (Пределом обнаружения называется минимальное количество
             анализируемого вещества, которое может быть обнаружено данным
             методом). Если монохроматический пучок рентгеновского излучения
             направить на изучаемый объект под углом ϕо< (ϕо)max, то, как ранее
             отмечено, это излучение проникает в отражающее вещество на малую
             глубину порядка десятков - сотен ангстрем и возбуждает в нем
             рентгеновскую флуоресценцию. В облучаемом объекте первичное
             излучение не претерпевает значительного рассеяния. Поэтому фоновая
             составляющая рентгеновской флуоресценции, обусловленная этим
             процессом, практически отсутствует, что позволяет получить высокую
             контрастность аналитического сигнала. Возможен и другой вариант,
             когда на поверхность объекта, не дающего собственного
             характеристического излучения в исследуемой области спектра,
             наносят небольшое количество анализируемого вещества. Под
             действием падающего монохроматического излучения это вещество
             флуоресцирует, а фоновое излучение от подложки из-за эффекта
             полного     внешнего     отражения      практически    отсутствует.
             Принципиальная схема такого прибора, позволяющая реализовать оба
             рассмотренных варианта, представлена на рис.12.




                  Рис.12. Схема флуоресцентного                прибора,     использующего
             эффект полного внешнего отражения.

                   На рис.12 отражатели 1 и 2 отсекают коротковолновую часть
             неоднородного излучения источника. Флуоресцентное излучение
             образца обычно регистрируется полупроводниковым детектором. В
             качестве источника может быть использована рентгеновская трубка
             или синхротронное излучение. В приборах такого типа очень высокие
             требования предъявляются к чистоте обработки поверхностей:
             шероховатости не должны превышать 1 мкм. Достигнутый предел
             обнаружения характеризуется величинами порядка 10 -5 %. При
             использовании синхротронного излучения становится возможным
             определение в приповерхностных слоях образца фемтограммовых
             количеств некоторых элементов [24].
                   Схема, представленная на рис. 12, модифицирована в работах
             [25,26] путем максимального приближения отражателей 1 и 2 к
             источнику первичного излучения (рентгеновская трубка) и
             использования очень малого зазора между этими отражателями.
             Отполированные кремниевые отражатели прижимаются друг к другу с


                                                                                       37

PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com