ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
33
SiO
2
под затвором , термически выращенной на поверхности кремниевой
подложки, всегда содержится положительный ионный заряд , состоящий из
ионов натрия Na
+
, ионов водорода H
+
и других , с плотностью
Q
SiO2
=q*(3÷10)*10
11
К /см
2
в зависимости от особенностей применяемых
технологических процессов. В подложке n-типа на границе раздела Si-SiO
2
под
влиянием поля этого ионного заряда наводится отрицательный заряд
подвижных электронов Q. Кроме того, работа выхода из металла (Al) ϕ
м
меньше работы выхода из кремния ϕ
Si
. В подложке у поверхности образуется
Рис. 1. Структуры полевых транзисторов:
а) полевой транзистор с управляющим p-n-переходом ;
б ) МДП-транзистор с индуцированным каналом ;
в) МДП-транзистор со встроенным каналом .
исток
исток
исток
сток
сток
сток
затвор
затвор
затвор
а)
n-Si
канал
p-n-
переход
p-Si
+
SiO
2
SiO
2
pp
индуцированный канал
подложка
подложка
n-Si
б)
n
n
p-Si
в)
33 SiO2 под затвором , терм ически вы ращ енной на поверхности крем ниевой под лож ки, всегд а сод ерж ится полож ительны й ионны й заряд , состоящ ий из ионов натрия Na+, ионов вод ород а H+ и д ругих, с плотностью QSiO2=q*(3÷10)*1011 К /см 2 в зависим ости от особенностей прим еняем ы х технологических процессов. В под лож кеn-типа на границеразд ела Si-SiO2 под исток сток n-Si канал p-n- переход p+-Si затвор затвор а) исток сток SiO2 p p n-Si инд уцированны й канал под лож ка б) затвор исток сток SiO2 n n p-Si под лож ка в) Рис. 1. Структуры полевы х транзисторов: а) полевой транзистор суправляю щ им p-n-переход ом ; б) М Д П-транзистор синд уцированны м каналом ; в) М Д П-транзистор со встроенны м каналом . влиянием поля этого ионного заряд а навод ится отрицательны й заряд под виж ны х электронов Q. К ром е того, работа вы ход а из м еталла (Al) ϕм м еньш е работы вы ход а из крем ния ϕSi. В под лож ке у поверхности образуется
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 31
- 32
- 33
- 34
- 35
- …
- следующая ›
- последняя »