Методы проектирования фрагментов компьютерной сети. Платунова С.М. - 30 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

Университет ИТМО | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

e. коэффициент оперативной готовности системы R
s
.
Методика синтеза структуры системы по обеспечению доступности
следующая [11].
1. Анализ доступности исходной систем.
2. Определение кратности раздельного резервирования,
обеспечивающего требования надежности.
3. Определение показателей надежности системы: вероятности
безотказной работы системы P
s
(t), коэффициента готовности
системы K
rs
, коэффициента оперативной готовности системы
R
s
синтезированной структуры.
Анализ доступности исходной системы производится по критерию
коэффициента оперативной готовности системы не меньше заданного
R
s
≥R
z
и включает определение:
- вероятности безотказной работы исходной системы P
s
(t) в течение
времени t,
- коэффициента готовности элементов системы K
ri
,
- коэффициента оперативной готовности исходной системы для
экспоненциального распределения R
s
= K
r
P
s
(t).
Вероятность безотказной работы для систем с дробной кратностью
резервирования при условии, что все элементы имеют одинаковую
надежность, рассчитывается из выражения:
[ ]
( )
in
m
i
i
ns
tptpCtP )(1)()(
1
0
−=
−
=
∑
, (3.1)
где
i
n
C
– число сочетаний из (n) по (i) элементов системы; p(t) –
вероятность безотказной работы элемента системы; m – число резервных
элементов системы; n – общее число элементов системы с числом
основных элементов (n-m).
С помощью формулы (3.1) можно определить необходимое
количество резервных элементов m системы для заданного числа основных
(n-m), обеспечивающих требуемую вероятность безотказной работы
системы P
s
(t).
Плотность распределения времени безотказной работы (частота
отказов) рассчитывается из выражения:
( )
)()()()(
1
tftPtQCmntf
mnmm
ns
−−
−=
(3.2)
где f(t) – плотность распределения времени безотказной работы элемента;
Q(t) =1- p(t) – вероятность отказа элемента.
Коэффициент готовности элементов рассчитывается из выражения:
i
ri
tK
ρ
+
=
1
1
)(
, i = 1, 2, …, n. (3.3)
Из литературы [10] известно, что интенсивность отказов одной
микросхемы равна λ=[10
-6
, 10
-7
] час
-1
.
30

Страницы