Составители:
5
меняемых методов их выявления используют следующие понятия:
тонкая структура, микро$ и макроструктура.
Тонкая структура описывает расположение элементарных час$
тиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными
методами рентгенографии и электронографии. Большинство крис$
таллических материалов состоит из мелких кристалликов$зерен.
Наблюдают такую микроструктуру с помощью оптических или элек$
тронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным
глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют рако$
вины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристал$
ле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементар$
ной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин:
три отрезка – равные расстояния до ближайших элементарных час$
тиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками a, b,
g. Соотношения между этими величинами определяют форму ячей$
ки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем,
типы кристаллических решеток которых изображены на рис. 1, где 1
– кубическая; 2 – тетрагональная; 3 – ромбическая; 4 – ромбоэдри$
ческая; 5 – гексагональная; 6 – моноклинная; 7 – триклинная.
Рис. 1
Отрезки a, b, c – периоды решетки, которые определяют размер
элементарной ячейки. В большинстве случаев решетки сложнее, так
как элементарные частицы находятся не только в узлах кристалли$
z
a
y
x
g
a
b
a = b = c
a = b = g = 90°
a
a
z
a
y
x
g
a
b
a = b ¹ c
a = b = g = 90°
a
c
z
a
y
x
g
a
b
a ¹ b ¹ c
a = b = g = 90°
b
c
z
a
y
x
g
a
b
a = b = c
a = b = g ¹ 90°
a
a
z
a
y
x
g
a
b
a ¹ b ¹ c
a ¹ b ¹ g ¹ 90°
b
c
z
a
y
x
g
a
b
a ¹ b ¹ c
a = g = 90° ,
b ¹ 90°
b
c
z
a
y
x
g
a = b ¹ c
a = b = 90° , g = 120°
a
c
1
2
3
4
5
6
7
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- …
- следующая ›
- последняя »
