Материаловедение и материалы электронной техники. Плотянская М.А - 6 стр.

UptoLike

6
ческой решетки, но и на ее гранях или в центре решетки. Наиболее
распространенные сложные кристаллические решетки металлов по$
казаны на рис. 2, где а – объемно$центрированная кубическая (ОЦК);
б – гранецентрированная кубическая (ГЦК); в – гексагональная плот$
ноупакованная (ГПУ).
Рис. 2
Для задания направления в кристаллической решетке и располо$
жения плоскостей кристалла используются кристаллографические
индексы (индексы Миллера). Положение атомных плоскостей в кри$
сталле определяется отрезками, отсекаемыми этими плоскостями при
их пересечении с осями координат x, y, z. Эти отрезки измеряются
целыми числами m, n, p, равными длине ребер ячейки a, b, c, которые
являются единичными расстояниями вдоль осей координат. За ин$
дексы плоскостей принято брать обратные отрезки: h = 1/m, k = 1/n,
l = 1/p. Эти числа заключаются в круглые скобки. На рис. 3 показан
ряд плоскостей в простой кубической решетке.
Рис. 3
Индексы направления [u, v, w] определяют координаты узла кри$
сталлической решетки в единицах отрезков a, b, c, проходят через
начало координат и узлы кристаллической решетки, их обозначают
целыми числами и заключают в квадратные скобки. Кристаллогра$
a
a
a
б)
a) в)
z
x
y
c
(010)
(010)
(110)
(111)
z
x
y
z
x
y