Лазерная техника и технология. Поляков В.Е - 66 стр.

UptoLike

Рубрика: 

67
Разработанный метод позволяет также реализовать селективную
стерилизацию одного сорта бактерий, путем их облучения лазером с
длиной волны, совпадающей с наведенной полосой поглощения.
Описание лабораторной установки
Оптическая схема спектрофотометра типа СФ приведена на рис. 21,
где 1- входная, 2 – промежуточная, 3 – выходная щели, 4 –вращающееся
секторное зеркало, 5- решетки.
В фотоэлектрических фотометрах глаз экспериментатора заменен
приемником энергиифотоэлементом, в котором световая энергия пре-
образуется в электрическую. Это позволяет проводить калориметриче-
ские измерения не только в видимой области, но и других областях
спектра
УФ- и ИК-диапазонах.
К достоинствам фотоэлектрических приборов относятся:
- точность измерений и независимость их от субъективных особен-
ностей зрения экспериментатора;
- возможность автоматизировать определение концентрации ве-
ществ при химическом контроле.
Метод с использованием фотометров аналогичен визуальной кало-
риметрии и основан на зависимости изменения интенсивности световых
потоков при их прохождении через
раствор от концентрации растворен-
ного вещества (т.е. базируется на законе Бугера-Ламберта-Бэра).
Фотометр выполнен в виде одного блока. На металлическом осно-
вании закреплены узлы фотометра, которые закрываются кожухом. Кю-
ветное отделение закрывается съемной крышкой. В фотометр входят
фотометрический блок, блок питания и микропроцессорная система.
Фотометрический блок состоит из осветителя
, монохроматора, кю-
ветного отделения, кюветодержателя, фотометрического устройства.
Конструкция механизма осветителя обеспечивает перемещение лампы в
трех взаимно перпендикулярных направлениях.
Монохроматор служит для получения излучения заданного спек-
трального состава и состоит из корпуса, узла входной щели, сферическо-
го зеркала, дифракционной решетки, узла выходной щели и синусного
механизма. Имеется ручка, которая служит для
поворота дифракцион-
ной решетки через синусный механизм и установки требуемой длины
волны (в нм).