Управление качеством процессов и продукции. Книга 2: Инструменты и методы менеджмента качества процессов в производственной, коммерческой и образовательной сферах. Пономарев С.В - 31 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

31
− дополнительные (гипотетические) значения нижней (LSL)′ и
верхней (USL)′ границ поля допуска, которые нам потребуются ниже.
По имеющимся на рис. 1.2 данным могут быть вычислены сле-
дующие величины, характеризующие качество процесса производства
валиков:
− оценка индекса пригодности процесса удовлетворять техниче-
ский допуск (без учета положения среднего значения
x
) [34]
43,1
035,0
975,9025,10LSLUSL
6
LSLUSL
≈
−
=
−
≈
σ
−
=
R
Р
р
;
примечание 1: если Р
р
≥ 1, то ширина гистограммы укладывается
в пределах ширины поля допуска, т.е. процесс является управляемым;
точнее говоря, имеется возможность осуществить процесс так, что
99,73% изделий будут попадать в пределы поля допуска; если Р
р
< 1,
то процесс является неуправляемым, так как размеры части изделий
неизбежно будут выходить за пределы поля допуска; большинство
российских заводов работают при значениях Р
р
≈ 0,95…1,3, а япон-
ским специалистам по управлению качеством продукции во многих
случаях удается поддерживать на своих предприятиях значения индек-
са пригодности процессов Р
р
≈ 1,5…4,0, что позволяет ограничить де-
фектность продукции единицам бракованных изделий на миллион вы-
пускаемых изделий;
примечание 2: для того, чтобы проиллюстрировать, почему Р
р
на-
зывается индексом пригодности процесса, рассмотрим гипотетиче-
скую ситуацию, когда нижняя и верхняя границы допуска равны
(LSL)′ = 10,03 мм, (USL)′ = 10,08 мм; тогда получим значение индекса
пригодности процесса
43,1
035,0
03,1008,10
R
)LSL()USL(
6
LSLUSL
≈
−
=
′
−
′
≈
σ
−
=
p
P
;
видно, что при (LSL)′ = 10,03 мм, (USL)′ = 10,08 мм, когда (при пред-
ставленной на рис. 3.2 гистограмме) ни одно изделие не попадает в
пределы границ поля допуска, все равно P
p
≈ 1,43; именно поэтому
этот индекс Р
р
называется индексом пригодности процесса (он совер-
шенно не учитывает смещение центра
x
случайного распределения
размеров деталей относительно середины поля допуска Ц);
− смещение гистограммы относительно середины поля допуска
может быть охарактеризовано показателем настроенности процесса на
целевое значение

Страницы