ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
28
• ZINDO/S является версией метода INDO, параметризованного для
воспроизведения УФ и видимых оптических переходов при расчетах
конфигурационного взаимодействия (CI) с одночастичными
возбуждениями. Метод полезен для прогнозирования УФ и видимых
спектров , но не пригоден для оптимизации геометрии или
молекулярной динамики.
• TNDO (Typed Neglect of Differential Overlap, классифицированное
пренебрежение дифференциальным перекрыванием ) является новым
полуэмпирическим методом , достигающим высокой точности при
правильном подборе параметров . Из молекулярной механики
применяется классифицирование (“typing” ) атомов для описания их
химического окружения в молекуле, используя различные классы
заданных параметров , в комбинации с быстрыми полуэмпирическими
методами. Недостаток заключается в необходимости разработки
наборов параметров для различных типов (классов ) молекул .
4.1.2.1. Настройки расширенного метода Хюккеля
Для настройки расширенного метода Хюккеля (Extended Huckel)
используется диалоговое окно, вызываемое кнопкой Options (Опции):
Рис.25. Окно настроек расширенного метода Хюккеля
Значение поля Total charge (Полный заряд системы ) вычисляется как
разность между суммарным зарядом ядер и полным количеством электронов в
системе. Имеет целочисленное значение , для катионов – положительное , а для
анионов - отрицательное .
Значение поля Spin multiplicity (Мультиплетность по спину)
вычисляется по формуле 2S+1, где S – полный спин системы . Каждый
неспаренный электрон имеет спин, равный 1/2. Системы с закрытой оболочкой
( синглет) имеют мультиплетность , равную 1. А обладающие одним
неспаренным электроном (дублет) и двумя (триплет) – 2 и 3 соответственно
(системы с открытой оболочкой ). В это поле можно вводить целочисленные
величины от 1 до 6.
28 • ZINDO/S я вл я ется версией метода INDO, параметризованного дл я воспроизведения У Ф и видимы х оптических переходов при расчетах конф игурационного взаимодействия (CI) с одночастичны ми возбуж дения ми. Метод пол езен дл я прогнозирования У Ф и видимы х спектров, но не пригоден дл я оптимизации геометрии ил и мол екул я рной динамики. • TNDO (Typed Neglect of Differential Overlap, кл ассиф ицированное пренебреж ение диф ф еренциал ьны м перекры ванием) я вл я ется новы м пол уэмпирическим методом, достигаю щ им вы сокой точности при правил ьном подборе параметров. И з мол екул я рной механики применя ется кл ассиф ицирование (“typing” ) атомов дл я описания их химического окруж ения в мол екул е, испол ьзуя разл ичны е кл ассы заданны х параметров, в комбинации с бы стры ми пол уэмпирическими методами. Н едостаток закл ю чается в необходимости разработки наборов параметров дл я разл ичны х типов (кл ассов) мол екул . 4.1.2.1. Настройки расш и ренного метода Х юккеля Д л я настройки расш иренного метода Хю ккел я (Extended Huckel) испол ьзуется диал оговое окно, вы зы ваемое кнопкой Options (О пции): Рис.25. О кнонастроекрасш иренногометодаХю ккел я Значение пол я Total charge (П ол ны й заря д системы ) вы числ я ется как разность меж ду суммарны м заря дом я дер и пол ны м кол ичеством эл ектронов в системе. И меетцел очисл енное значение, дл я катионов – пол ож ител ьное, адл я анионов - отрицател ьное. Значение пол я Spin multiplicity (Мул ьтипл етность по спину) вы числ я ется по ф ормул е 2S+1, где S – пол ны й спин системы . Каж ды й неспаренны й эл ектрон имеетспин, равны й 1/2. С истемы сзакры той обол очкой (сингл ет) имею т мул ьтипл етность, равную 1. А обл адаю щ ие одним неспаренны м эл ектроном (дубл ет) и двумя (трипл ет) – 2 и 3 соответственно (системы с откры той обол очкой). В этопол е мож новводить цел очисл енны е вел ичины от1 до6.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 26
- 27
- 28
- 29
- 30
- …
- следующая ›
- последняя »