ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
124
диффузия «дырок» в полупроводник n-типа. В приграничной области со
стороны полупроводника p-типа появляются электроны, а по другую сторо-
ну контакта, в полупроводнике n-типа – «дырки». В результате граничная
область со стороны полупроводника p-типа получает избыточный отрица-
тельный заряд, а со стороны полупроводника n-типа - положительный (рис.
50а). На рисунке (50б) изображено для упрощения картины перемещение
лишь одного электрона, который, попав в «дырку», аннигилирует (исчезает
как свободный заряд). Но так как обе части кристалла в исходном состоянии
были нейтральны, то уход электрона из полупроводника n-типа нарушает
эту нейтральность, и полупроводник n-типа вблизи контакта приобретает
локализованный положительный объемный заряд. Аналогичные рассужде-
ния можно провести относительно появления объемного отрицательного
заряда в приконтактной области полупроводника p-типа. Локализация объем-
ных зарядов обусловлена тем, что эти заряды связаны с локализованными в
кристаллической решётке донорами и акцепторами.
В контактном поле возникает двойной электрический слой, возникает
контактное электрическое поле
k
E
r
, на рис. 50а оно направлено слева напра-
во, из полупроводника n–типа в полупроводник p-типа. Но это контактное
поле, само порожденное диффузионным потоком основных носителей за-
ряда, будет тормозить их движение, и даже может вызвать появление дрей-
фового тока неосновных носителей заряда из полупроводника p-типа – элек-
тронов- в полупроводник n-типа (соответственно из полупроводника n-типа
– «дырок» – в полупроводник p-типа). Когда эти два встречных потока урав-
новесят друг друга, говорят о наступлении динамического равновесия на p-
n-переходе. При этом в приконтактной области по обе стороны контакта
образуются слои, обедненные основными носителями заряда (ведь часть их
продиффундировала в соседнюю область). Эта переходная область получи-
ла название запорного слоя, её ширина
x
∆
порядка 10
-5
см. А если учесть,
что контактная разность потенциалов
ϕ
∆
достигает величины 0,1-0,5 В, тоо
напряженность контактного поля оказывается очень большой величиной
смВ
x
E
k
/10
5
≈
∆
∆
=
ϕ
.
Как видно из рис.50 возникновение p-n-перехода сопровождает-
ся поднятием уровней (зон) в полупроводнике p-типа по отношению к
уровням (зонам) полупроводника n-типа. Разберемся в этом явлении,
PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com
диффузия «дырок» в полупроводник n-типа. В приграничной области со
стороны полупроводника p-типа появляются электроны, а по другую сторо-
ну контакта, в полупроводнике n-типа – «дырки». В результате граничная
область со стороны полупроводника p-типа получает избыточный отрица-
тельный заряд, а со стороны полупроводника n-типа - положительный (рис.
50а). На рисунке (50б) изображено для упрощения картины перемещение
лишь одного электрона, который, попав в «дырку», аннигилирует (исчезает
как свободный заряд). Но так как обе части кристалла в исходном состоянии
были нейтральны, то уход электрона из полупроводника n-типа нарушает
эту нейтральность, и полупроводник n-типа вблизи контакта приобретает
локализованный положительный объемный заряд. Аналогичные рассужде-
ния можно провести относительно появления объемного отрицательного
заряда в приконтактной области полупроводника p-типа. Локализация объем-
ных зарядов обусловлена тем, что эти заряды связаны с локализованными в
кристаллической решётке донорами и акцепторами.
В контактном поле возникает двойной электрический слой, возникает
r
контактное электрическое поле Ek , на рис. 50а оно направлено слева напра-
во, из полупроводника n–типа в полупроводник p-типа. Но это контактное
поле, само порожденное диффузионным потоком основных носителей за-
ряда, будет тормозить их движение, и даже может вызвать появление дрей-
фового тока неосновных носителей заряда из полупроводника p-типа – элек-
тронов- в полупроводник n-типа (соответственно из полупроводника n-типа
– «дырок» – в полупроводник p-типа). Когда эти два встречных потока урав-
новесят друг друга, говорят о наступлении динамического равновесия на p-
n-переходе. При этом в приконтактной области по обе стороны контакта
образуются слои, обедненные основными носителями заряда (ведь часть их
продиффундировала в соседнюю область). Эта переходная область получи-
ла название запорного слоя, её ширина ∆x порядка 10-5 см. А если учесть,
что контактная разность потенциалов ∆ϕ достигает величины 0,1-0,5 В, то
о
напряженность контактного поля оказывается очень большой величиной
∆ϕ
Ek = ≈ 105 В / см .
∆x
Как видно из рис.50 возникновение p-n-перехода сопровождает-
ся поднятием уровней (зон) в полупроводнике p-типа по отношению к
уровням (зонам) полупроводника n-типа. Разберемся в этом явлении,
124
PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 122
- 123
- 124
- 125
- 126
- …
- следующая ›
- последняя »
