ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
11
температурную, лежащую при температуре –18 °С и высокотемператур-
ную – при 23 °С. В этом интервале наблюдается спонтанная поляризация»
и сегнетовая соль имеет моноклинную структуру. За указанными
пределами при высокой и низкой температуре структура сегнетовой соли
является ромбической.
Сегнетоэлектрические свойства обнаруживаются только вдоль оси аи
при температурах от г-18 °С до +23 °С; эта ось является сегнетоэлектри-
ческой осью. В направлении оси b и c сегнетоэлектрические свойства не
проявляются и диэлектрические проницаемости составляют всего
несколько единиц, как и для других кристаллов (рис.8).
Описание измерительной установки
1. Величину спонтанной поляризации
сп
P и ее зависимость от
температуры )(TfР
сп
= можно найти, используя метод диэлектрического
гистерезиса (рис.9).
Разность потенциалов U (напряжение сети частотой 50 Гц)
прикладывается к параллельно соединенным эталонному линейному
конденсатору С
о
и исследуемому сегнетоэлектрику С
x
. Приложенное
напряжение падает на исследуемом образце, так как С
0
>> С
x
, т.е. UU
x
⊂ .
Это же напряжение подается на
горизонтальные пластины
осциллографа. На вертикальные
пластины осциллографа подается
напряжение
0
U с эталонного
конденсатора
0
C пропорциональное
его заряду и заряду на конденсаторе
x
C . Исходя из соотношения
QUCUC
xx
==
00
, где Q –заряд на
конденсаторе с учетом соотноше-
ний
δ
=
P и SQ
δ
=
, где S–плотность
заряда,
δ
площадь конденсатора, Р–
поляризация, получим
SUCP /
00
= . (1)
Как видно из соотношения (1)
для измерения поляризации в рас-
сматриваемой схеме необходимо
знать площадь конденсатора с
сегнетоэлектриком и величину
0
U ,
пропорционального отклонению
луча осциллографа по вертикали.
2. Зависимость диэлектрической проницаемости от температуры
)(Tf
r
=
ε
можно найти, сняв зависимость ёмкости исследуемого образца от
Рис.9. Схема осциллографи -
ческого исследования петли
диэлектрического гисте
резиса:
U - источник переменного
напряжения;
x
C - исследуемый
образец сегнетоэлектрика;
0
C -
эталонный линейный
конденсатор; V –
вольтметр; О
– осциллограф; Т – термостат
O
T
0
C
x
C
V
~U
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
температурную, лежащую при температуре –18 °С и высокотемператур- ную – при 23 °С. В этом интервале наблюдается спонтанная поляризация» и сегнетовая соль имеет моноклинную структуру. За указанными пределами при высокой и низкой температуре структура сегнетовой соли является ромбической. Сегнетоэлектрические свойства обнаруживаются только вдоль оси аи при температурах от г-18 °С до +23 °С; эта ось является сегнетоэлектри- ческой осью. В направлении оси b и c сегнетоэлектрические свойства не проявляются и диэлектрические проницаемости составляют всего несколько единиц, как и для других кристаллов (рис.8). Описание измерительной установки 1. Величину спонтанной поляризации Pсп и ее зависимость от температуры Рсп = f (T ) можно найти, используя метод диэлектрического гистерезиса (рис.9). Разность потенциалов U (напряжение сети частотой 50 Гц) прикладывается к параллельно соединенным эталонному линейному конденсатору Со и исследуемому сегнетоэлектрику Сx. Приложенное напряжение падает на исследуемом образце, так как С0 >> Сx, т.е. U x ⊂ U . Это же напряжение подается на T горизонтальные пластины Cx осциллографа. На вертикальные пластины осциллографа подается напряжение U 0 с эталонного V U~ конденсатора C 0 пропорциональное O его заряду и заряду на конденсаторе C0 Cx . Исходя из соотношения C xU x = C 0U 0 = Q , где Q –заряд на конденсаторе с учетом соотноше- Рис.9. Схема осциллографи - ний P = δ и Q = δS , где S–плотность ческого исследования петли заряда, δ площадь конденсатора, Р– диэлектрического гистерезиса: поляризация, получим U - источник переменного P = C 0U 0 / S . (1) напряжения; C x - исследуемый Как видно из соотношения (1) образец сегнетоэлектрика; C 0 - для измерения поляризации в рас- эталонный линейный сматриваемой схеме необходимо конденсатор; V – вольтметр; О – осциллограф; Т – термостат знать площадь конденсатора с сегнетоэлектриком и величину U 0 , пропорционального отклонению луча осциллографа по вертикали. 2. Зависимость диэлектрической проницаемости от температуры ε r = f (T ) можно найти, сняв зависимость ёмкости исследуемого образца от 11 PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com