Технология радиоэлектронных средств. Лабораторный практикум - 28 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Следующей задачей в рассматриваемом примере является поиск неисправностей интегральной микросхемы на нера-

бочей печатной плате. Для этого случая в установке тестового контроля предусмотрен алгоритм поиска неисправного

элемента (микросхемы) на печатной плате. Индикация выходных сигналов с интегральных микросхем осуществляется с

помощью светодиодов. Наличие светодиодной индикации соответствует высокому логическому уровню, отсутствие ин-

дикации – низкому логическому уровню. Таким образом, пользователь может определить неисправный элемент в резуль-

тате сравнения уровней выходных сигналов интегральных микросхем по светодиодной индикации этих уровней сигналов

с уровнями сигналов рассматриваемых интегральных микросхем, указанных в контрольных картах нормативно-

технической документации контролируемого устройства.

Методические указания и порядок выполнения работы

Установка тестового контроля (рис. 5.1) предназначена для проверки работоспособности печатной платы с 48-ю

контактами. Установка обеспечивает подачу на контакты типовых элементов замены необходимых логических уровней с

последующим контролем реакции на выводах ТЭЗ.

К установке тестового контроля подключается стабилизированный блок питания, с которого подаётся напряжение

плюс 5 В.

На рис. 5.1 введены следующие обозначения:

1 – разъём для подключения ТЭЗ;

2 – выключатель питания;

3 – переключатель сигнальных светодиодов в положения «вход-выход»;

4 – сигнальные светодиоды;

5 – установка контактов стенда в положения «вход-выход»;

6 – установка на входе логического нуля или единицы.

Рис. 5.1. Установка тестового контроля