ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
УДК 621.382.82(075.8)
Составители: П.В.Серба, С. П. Мирошниченко.
Учебное пособие по курсу «Кристаллография». Контроль
параметров микроструктуры материалов методами дифракцион-
ного анализа. Таганрог: Изд-во ТТИ ЮФУ, 2009, 40с.
Табл.2. Ил.21.
В пособии рассматриваются способы контроля
параметров микроструктуры материалов методами
дифракционного анализа. Приводятся основные параметры,
характеристики, методика контроля. Методическое пособие
предназначено для изучения курса «Кристаллография»
студентами специальностей 210100 и 210600, а также может
быть полезно студентам других специальностей.
Рецензент Е. Т. Замков, кандидат технических наук, доцент
кафедры КЭС, ТТИ ЮФУ.
2
