Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 4 стр.

UptoLike

достаточно устойчивые кристаллы. Иногда необходимо проводить
исследование при высоких или низких температурах. Это сильно
затрудняет проведение эксперимента. Полное исследование очень
трудоёмко, длительно и сопряжено с большим объёмом вычисли-
тельной работы.
Для установления атомной структуры средней сложности (~50-
100 атомов в элементарной ячейке) необходимо измерять интенсив-
ности нескольких сотен и даже тысяч дифракционных отражений. Эту
весьма трудоёмкую и кропотливую работу выполняют автоматические
микроденситомеры и дифрактометры, управляемые ЭВМ, иногда в
течение нескольких недель и даже месяцев (например, при анализе
структур белков, когда число отражений возрастает до сотен тысяч). В
связи с этим в последние годы для решения задач рентгеноструктур-
ного анализа получили широкое применение быстродействующие
ЭВМ. Однако даже с применением ЭВМ определение структуры оста-
ётся сложной и трудоёмкой работой. Применение в дифрактометре
нескольких счётчиков, которые могут параллельно регистрировать
отражения, время эксперимента удаётся сократить. Дифрактометри-
ческие измерения превосходят фоторегистрацию по чувствительности
и точности.
Позволяя объективно определить структуру молекул и общий
характер взаимодействия молекул в кристалле, исследование методом
рентгеноструктурного анализа не всегда даёт возможность с нужной
степенью достоверности судить о различиях в характере химических
связей внутри молекулы, так как точность определения длин связей и
валентных углов часто оказывается недостаточной для этой цели.
Серьёзным ограничением метода является также трудность определе-
ния положений лёгких атомов и особенно атомов водорода.
2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ
ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ
Для исследования структуры кристалла, используется
дифракция фотонов, нейтронов и, реже, электронов. Угол, на который
отклоняется дифрагированная волна, зависит главным образом от
кристаллической структуры и от длины волны падающего излучения.
Рентгеновские лучи. Энергию кванта рентгеновского излучения
можно определить по его длине волны
λ
, пользуясь формулой
4