Контроль качества мощных транзисторов по теплофизическим параметрам. Сергеев В.А. - 2 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

УДК 621.382.3:621.317.6 ББК

32.852.3

С 32

Рецензенты: д-р техн. наук Л.И. Волгин,

канд. техн. наук А.А. Широков

УДК 621.3 82.3:621.317.6

Сергеев В.А.

Контроль качества мощных транзисторов по теплофизическим параметрам/ Ульян, гос.

техн. ун-т. - Ульяновск: УлГТУ, 2000. - 253 с.

В монографии рассматриваются тепловые модели и параметры мощных транзисторов с учетом

эффектов неоднородного токораспределения и внутренней тепловой обратной связи в транзисторных

структурах. Анализируется влияние разброса тепловых параметров на характеристики транзисторных

схем.

Описываются оригинальные автоматизированные методы и средства контроля теплофизи-ческих

параметров мощных транзисторов, включая параметры тепловой неустойчивости. Приводятся

результаты экспериментальных исследований зависимости тепловых параметров транзисторов от

параметров теплового режима и внешних факторов. Приводятся также результаты выборочных

испытаний различных типов приборов, даны рекомендации по выбору информативных параметров и

режимов их измерения для повышения эффективности отбраковки.

Книга предназначена для инженерно-технических работников и специалистов, занимающихся

разработкой и производством полупроводниковых приборов и аппаратуры с их применением.

Оформление. УлГТУ, 2000

ISBN 5-89146-207-9