ВУЗ:
Рубрика:
обратного рассеяния
Резерфорда
блоки, получаемая информация и ее анализ
9.
Дифракция быстрых и
медленных электронов
Физические принципы, техническая реализация, основные
блоки, получаемая информация и ее анализ
10.
Туннельная и атомно-
силовая микроскопия.
Физические принципы, техническая реализация, основные
блоки, получаемая информация и ее анализ
11.
Электронная
микроскопия, в том чис-
ле, высокого разрешения.
Физические принципы, техническая реализация, основные
блоки, получаемая информация и ее анализ
12.
Тенденции развития
микроаналитических
методов
III. Распределение часов курса по темам и видам работ
Аудиторные занятия (час)
в том числе
№
пп
Наименование
темы
Всего
часов
лекции семинары
лаборатор.
занятия
Самостоя-
тельная
работа
1
Взаимодействие
ускоренных частиц с
твердым телом.
4 2 2 -
2
Методы получения
ускоренных частиц,
управление пучками.
Аналитическая
аппаратура.
7 3 2 -
2
3
Растровая электронная
микроскопия
20 4 2 12
2
4
Рентгеноспектральный
микроанализ.
7 3 4 -
5
Оже-электронная
спектроскопия.
9 3 4 -
2
6
Рентгеновская
фотоэлектронная
спектроскопия.
4 2 2 -
7
Вторичная ионная масс-
спектроскопия.
21
3 4 12 2
8
Спектрометрия
обратного рассеяния
Резерфорда.
6
2 4 -
9
Дифракция быстрых и
медленных электронов
16
2 2 12
10
Туннельная и атомно-
силовая микроскопия.
6
2 4 -
11
Электронная
микроскопия, в т.ч.
высокого разрешения.
32
6 4 18 4
12
Тенденции развития
микроаналитических
методов
2
2 - -
ИТОГО
134 34 34 54
12
