ВУЗ:
Рубрика:
IV. Форма итогового контроля
Зачет теоретический, зачет по лабораторным работам
V. Учебно-методическое обеспечение курса
1. Рекомендуемая литература (основная):
1. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах. // пер. с
англ. под ред. В.И. Петрова. – М.: Мир, 1984.
2. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев
Л.Н. Кристаллография,
рентгенография и электронная микроскопия. – М.: Металлургия, 1982. – 632 с.
3. Методы анализа поверхностей. /Под ред. А. Зандерны. - М.: Мир, 1979. - 562 с.
4. Основы аналитической электронной микроскопии. / под ред. Дж. Грена. Дж. И.
Гольштейна, Д.К. Джоя, А.Д. Ромига. – М.: Металлургия, 1990. – 584 с.
2. Рекомендуемая литература (дополнительная):
1. Электронно-зондовый анализ
. /Под ред. И.Б. Боровского. - М.: Мир, 1974. - 260 с.
2. Практические методы в электронной микроскопии. /Под ред. О.М. Глоэра. - Л.:
Машиностроение, 1980. - 375 с.
3. Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении. // под ред С.
Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ланде / пер. с англ. под ред. М.П. Усикова. М.:
Металлургия, 1984. – 504 с.
4.
Анализ поверхности методами ОЖЕ и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
/Под ред. Д. Биггса, М.П. Сиха. - М.: Мир, 1967. - 600 с.
5. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. - М.: Мир. -
1989. - 568 с.
6. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. - М.: Мир - 1989. -
342 с.
Автор:
Ивонин Иван Варфоломеевич, д.ф.-м.н., профессор
