ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
В методе УФ-микроскопии оптические узлы микроскопа должны быть изготовлены из кварцевого стекла, прозрачного
для УФ-лучей. Изображение в УФ-микроскопии регистрируют либо фотографированием, либо наблюдают получаемую кар-
тину на люминесцирующем экране.
Электронная микроскопия. К числу развивающихся методов криминалистического исследования веществ и материа-
лов относится электронная микроскопия – просвечивающая (трансмиссионная) и растровая. При изучении объектов метода-
ми просвечивающей микроскопии изображение получается за счет явлений, связанных с прохождением пучков электронов
через ультратонкие срезы материала исследуемого объекта или через реплики из металлов или углерода, снятые с исследуе-
мой поверхности, и т.д. В растровом электронном микроскопе пучок электронов (электронный зонд) сканирует поверхность
объекта и изображение получается за счет вторичных электронов, рассеяния первичных электронов и т.д.
Методы электронной микроскопии, по сравнению с оптической микроскопией, позволяют получать значительно боль-
шее увеличение, а также обладают большой разрешающей способностью, в тысячи раз превышающей разрешающую спо-
собность лучших оптических микроскопов.
Недостатками электронной микроскопии являются ограниченные возможности исследования диэлектрических объек-
тов, так как для проведения их исследования необходимо нанесение металлизации, что исключает возможность изучения
расположенных на поверхности объектов-носителей микроследов.
Рентгеноскопия. Высоковольтная рентгеноскопия (дефектоскопия) используется для исследования внутренних дефек-
тов в изделиях из металлов и сплавов и других материалов с большой плотностью. С помощью мощных рентгеновских уста-
новок дефекты регистрируются либо на специальном экране, либо на рентгеновской пленке.
Низковольтная рентгеноскопия – просвечивание объектов рентгеновскими лучами с помощью маломощных портатив-
ных рентгеновских аппаратов или рентгеновских установок для рентгенофазового анализа. Изображение регистрируется на
рентгеновской пленке контактным (например, документов) или дистанционным (например, ювелирных камней, наслоений
частиц стекла, металлов, лакокрасочных покрытий на предметах одежды) методом.
Рентгеновская микроскопия позволяет за счет большого диапазона энергий изучать структуру самых различных объек-
тов, от живых клеток до тяжелых металлов. Рентгеновские микроскопы по конструкциям делятся на проекционные, кон-
тактные, отражательные и дифракционные.
При исследовании веществ и материалов рентгеноскопические методы, которые относятся к интроскопическим, осно-
ванным на визуализации картины внутреннего строения объекта, применяются лишь эпизодически. Это вызвано тем, что
основными объектами КИВМИ являются микрообъекты (микрочастицы и микроколичества веществ и материалов), вследст-
вие чего необходимость в интроскопических методах анализа оказывается крайне незначительной.
3.2. МЕТОДЫ И ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА КРИМИНАЛИСТИЧЕСКОГО
ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВ И
МАТЕРИАЛОВ
В криминалистическом исследовании веществ, материалов и изделий широко используются методы и технические
средства изучения состава веществ и материалов. По результатам определения состава судят о природе объекта, определяют
его происхождение или технологию изготовления, устанавливают принадлежность частей единому целому, выясняют при-
чину изменения свойств объекта и многие другие фактические данные, имеющие значение для установления обстоятельств
расследуемого дела.
Элементный состав широкого круга веществ и материалов преимущественно определяется анализами: спектральным
эмиссионным, лазерным микроспектральным, атомным абсорбционным, рентгеновским микроспектральным и некоторыми
другими (рис. 2).
Рис. 2. Система методов исследования элементного
состава веществ и материалов
МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА
Эмиссионный спектральный анализ
Рентгено-
спектральный
анализ
микрообъектов
по первичному
спектру
Лазерный микроспектральный анализ
Атомный абсорбционный анализ
Рентгеноспектральный анализ
Масс-спектрометрический анализ
Люминесцентный спектральный анализ
Спектрофотометрический анализ
Нейтронно-активационный анализ
Локальный
рентгено-
спектральный
анализ
Рентгенофлуо-
ресцентный
спектральный
анализ
